판매용 중고 CASCADE MICROTECH / ALESSI REL 6100 #9302517

CASCADE MICROTECH/ALESSI REL 6100은 마이크로 전자 산업의 프로버, 주요 테스트 장비입니다. 생산 테스트 환경에서 반도체 장치의 테스트, 특성, 분석을 위해 설계된 다기능, 전체 기능의 웨이퍼 프로브 카드 (wafer probe card) 장비입니다. 이 시스템은 빠른 전기 특성화 (electrical characterization) 및 단기 장치 성능 모니터링 (short-term device performance monitoring) 을 모두 수행할 수 있습니다. 마이크로프로세서, SRAM, DRAM, ASIC 및 기타 장치와 같은 Deep-Submicron IC를 조사하기위한 비용 효율적인 솔루션입니다. ALESSI REL-6100에는 고속 X, Y, Z 스테이지가 있어 고객의 애플리케이션에 Probe 카드를 빠르고 정확하게 배치할 수 있습니다. 이 장치에는 프로그래밍 가능한 6 축 로봇 암 (robot arm) 이 포함되어 있으며, 전용 연산자 없이 Probe 카드를 편리하게 배치하고 제거 할 수 있습니다. 프로브 (Probe) 카드는 테스트 중 테스트 중인 장치의 손상을 최소화하는 보호 주택에 둘러싸여 있습니다. 프로브 카드 (Probe Card) 에는 다양한 구성과 크기의 보드를 수용하기 위해 조절 가능한 마그네틱 브레이크 아웃 (Magnetic Breakout) 박스 하우징이 장착되어 있습니다. CASCADE MICROTECH REL 6100은 수동 및 자동 장애 격리를 모두 지원합니다. 이 시스템은 직관적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 사용하여 테스트와 분석을 수행합니다. GUI 는 설치 프로세스를 간소화하고 각 테스트에 대한 실시간 정보를 운영자에게 제공합니다. 패라메트릭 테스트, 고주파 스캔, 디바이스 특성, burn-in, 디바이스 burn-in 테스트 등 다양한 테스트 프로그램이 구성 및 테스트 매개변수 조정에 사용할 수 있습니다. ALESSI REL 6100 Prober는 운영 테스트 응용 프로그램의 고급 장치 테스트 및 특성화를위한 직관적이고, 비용 효율적인 솔루션을 제공합니다. 이 도구는 사용하기 쉽도록 설계되었으며, 강력하고 정확한 결과를 제공합니다. 유연한 프로그래밍 인터페이스와 조절 가능한 마그네틱 브레이크 아웃 (magnetic breakout) 박스는 장치 제조에서 테스트 요구를 빠르게 변화시키고 발전시키는 데 이상적인 솔루션입니다.