판매용 중고 CASCADE MICROTECH / ALESSI REL 4100A #9360457

CASCADE MICROTECH/ALESSI REL 4100A Prober는 반도체 제조 산업의 어려운 요구 사항을 충족시키기 위해 설계된 고급 웨이퍼 프로브 및 다이 테스트 장비입니다. 이 시스템은 모듈식 플랫폼을 기반으로 여러 구성 가능한 테스트 기능을 제공합니다. 이 제품은 높은 처리 속도, 신속한 데이터 수집 (fast data acquisition) 을 제공하며 다양한 wafer 테스트 요구 사항을 지원할 수 있는 유연성을 제공합니다. 이 장치는 DSP (Digital Signal Processor) 및 PLD (Programmable Logic Device) 를 갖춘 초고속 처리량 아키텍처를 사용합니다. 이를 통해 시스템은 테스트 데이터를 빠르고 정확하게 수집하여 테스트 결과를 신속하게 얻을 수 있습니다 (영문). ALESSI REL 4100A Prober는 또한 고객이 정의한 멀티 웰 (multi-well) 컨택터를 사용하여 설계되었으며, 운영자는 다양한 Probe 카드 설계에서 선택할 수 있습니다. 이렇게 하면 공구가 다른 치수의 웨이퍼를 효율적으로 테스트할 수 있습니다. 이 자산에는 고속 자동 초점 광학 현미경이 장착되어 있어 테스트 중인 웨이퍼 (wafer) 의 뛰어난 이미지를 제공합니다. 고해상도 컬러 이미지를 통해 연산자는 웨이퍼 (wafer) 표면의 피쳐를 정확하게 측정할 수 있습니다. 이것은 die 테스트 및 실패 분석 중 서피스 컨투어를 분석하는 데 특히 유용합니다. CASCADE MICROTECH REL 4100A Prober의 다른 기능에는 자동 정렬 기능이 포함되어 있으며, 이를 통해 프로브 전에 테스트중인 웨이퍼를 자동으로 정렬할 수 있습니다. 이 모델은 액정 (LT) 유전체 액체 (DIL), 표준 및 자체 차폐 프로브를 포함한 다양한 프로빙 미디어와 함께 사용할 수도 있습니다. 이를 통해 장비는 다양한 웨이퍼 프로브 응용 프로그램을 처리 할 수 있습니다. 사용자에게 친숙한 직관적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 통해 사용자는 신속하게 시스템을 설치하고 구성할 수 있습니다. 이를 통해 연산자는 X, Y 및 Z 오프셋, 접촉 압력, 트래버스 속도와 같은 모든 프로브 형상 매개변수를 쉽게 캡처할 수 있습니다. 또한 GUI 는 실시간 피드백 (feedback) 을 제공하며 측정 주기의 시작점과 끝점을 제어합니다. REL 4100A 프로버 (Prober) 는 반도체 업계의 가장 까다로운 요구 사항을 충족하도록 설계, 제작된 강력하고 다기능 웨이퍼 프로브 및 다이 테스트 솔루션입니다. 이 장치는 모듈식 플랫폼 (modular platform) 을 갖추고 있어 웨이퍼 레벨 구성 요소를 효율적으로 테스트할 수 있습니다. 이 시스템은 빠른 데이터 획득 (Fast Data Acquisition) 기능과 우수한 이미징 기능을 제공하여 웨이퍼 기능을 정확하게 테스트합니다. 직관적인 GUI (Graphical User Interface) 를 통해 다양한 애플리케이션의 설치와 구성을 쉽고 효율적으로 수행할 수 있습니다.