판매용 중고 CASCADE MICROTECH / ALESSI REL 3200 #9069354

CASCADE MICROTECH/ALESSI REL 3200은 반도체 웨이퍼 테스트를 위해 설계된 전체 기능의 전문가입니다. 최대 8 개의 웨이퍼를 동시에 테스트할 수 있으므로 처리량 및 생산성이 향상됩니다. 이 Prober는 이중 스캐닝 Probe 및 광학 정렬 시스템과 같은 고급 기술을 사용합니다. 그것 의 설계 는 정확 한 측정 을 하고, 시험 중 에 "웨이퍼 '가 적절 히 고정 되고 모니터링 된다. 프로버 (Prober) 의 프로브는 매우 민감하여 작은 프로브 (Probing) 힘과 테스트 조건에 대한 정확한 제어를 가능하게한다. 이중 스캐닝 Probe는 각 Probe Contact Location의 고해상도, 넓은 영역 이미지를 제공합니다. 이렇게 하면 신뢰할 수 있고 정확한 결과만 생성됩니다. 광 정렬 시스템 (optical alignment system) 은 프로브 팁을 웨이퍼 위에 정렬하고 배치하여 토폴로지 기능, 전송 시간, 전압 수준 등의 웨이퍼 특성을 정확하게 측정합니다. 또한 광 정렬 시스템은 위치 지정 오류를 제거하고 반복성을 향상시킵니다. ALESSI REL 3200에는 웨이퍼 처킹 메커니즘도 장착되어 있습니다. 이 메카 니즘 (mecha-nism) 은 테스트 중에 웨이퍼를 배치하여 컨택트 포인트가 웨이퍼와 확고한 접촉을 보장합니다. "커킹 '장치 는 또한 시험 중 에 일어날 수 있는" 웨이퍼' 의 손상 을 방지 한다. 프로버에는 컴퓨터 제어 핀 리프터와 드롭 앤 그랩 조작기도 포함됩니다. 이 두 메커니즘을 통해 프로버의 프로브 (Probe) 는 웨이퍼에 정확하게 접촉하고 테스트 신호의 전송을 신뢰할 수 있습니다. 마지막으로, 검사는 사용자 친화적 인 소프트웨어를 갖추고 있습니다. 이 소프트웨어는 자동 테스트 시퀀스를 수행하고 결과를 기록합니다. 이 소프트웨어는 사용자가 사용자 정의 테스트 시퀀스를 만들고, 테스트 데이터를 저장하여 나중에 사용할 수 있도록 도와줍니다. 또한 이 소프트웨어는 진단 (Diagnostics) 및 수정 조치 (Corrective Action) 절차를 통해 신호 무결성 문제를 신속하게 파악할 수 있습니다. 또한 사용자는 wafer loaded time 및 probe force 를 조정하여 결과를 최적화할 수 있습니다. CASCADE MICROTECH REL 3200 검사는 반도체 웨이퍼에 대한 효율적이고 정확하며 신뢰성이 높은 증명자입니다. 고급 기능과 사용자 친화적 인 소프트웨어 (User-Friendly Software) 를 통해 애플리케이션 테스트를 위한 탁월한 선택입니다.