판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 1132A #9280476

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 1132A 검사는 전자 장치의 검사 및 테스트를 수행하기 위해 강력하고 다양한 테스트 도구입니다. 독보적인 설계와 기능을 통해 직류 (DC) 에서 최대 100GHz 이상의 다양한 장치 매개변수를 안정적으로 측정할 수 있습니다. HP 1132A 프로버에는 업계 표준 웨이퍼 척 (Wafer Chuck), 직접 드라이브 Z- 회전 메커니즘 및 최대 10 인치의 명목 이동 범위가있는 3 축 조작기 암이 장착되어 있습니다. 또한 x-y 좌표에서 최대 ± 0.0001 인치, z 높이에서 ± 0.0001 인치의 해상도를 제공합니다. AGILENT 1132A 는 정밀한 데이터 측정을 제공하는 한편, 패키지는 손상되지 않도록 안전하게 보호합니다. 자동 웨이퍼 인식 기능 (Auto Wafer Recognition Feature) 을 사용하여 장치 매개변수를 척에 배치하자마자 자동으로 보안 (Secure) 및 스캔할 수 있습니다. 이 기능은 테스트 효율성을 높이고 수동 계산을 제거합니다. KEYSIGHT 1132A 프로버 (Prober) 에는 최적의 유연성과 정확성으로 장치의 접촉을 프로브 팁에 정확하게 맞추는 핀 매핑 시스템이 장착되어 있습니다. 이는 신호선 충돌 및 평면외 접촉과 관련된 오염을 피하면서 가장 정확한 측정을 보장합니다. 1132A prober는 또한 ADD (Automatic Defect Detection), 컬러 비디오 검사, 고대비 실시간 검사 등 다양한 시각 검사 옵션을 제공 할 수 있습니다. 이러한 기능은 품질 보증 담당자가 결함이 있는 구성 요소를 빠르고 정확하게 파악할 수 있도록 설계되었습니다. HEWLETT-PACKARD 1132A prober는 광범위한 Probe 및 Testing 응용 프로그램을 수행하는 강력한 다용도 테스트 도구입니다. 업계 표준 웨이퍼 척 (Wafer Chuck), 직접 구동 Z 회전 메커니즘 (Direct Drive Z-Rotation Mechanism) 및 3축 조작기 암 (Arm) 을 사용하면 테스트 중 장치를 손상으로부터 보호하면서 정확한 측정과 쉬운 작동을 보장할 수 있습니다. 핀 매핑 시스템 (Pin Mapping System) 과 검사 기능을 통해 테스트의 정확성과 효율성을 더욱 높일 수 있습니다.