판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 60 #9226940

ACCRETECH/TSK UF 60은 직경이 최대 3 인치 인 웨이퍼의 테스트 및 특성을 위해 설계된 전문가입니다. 이 프로버는 고해상도 변위 광학 인코더를 특징으로하며, 정확한 반복 가능성과 고정밀 스캔을 제공합니다. 이 검사는 최대 4 배율과 최대 20 x/s의 프로브 속도를 제공하면서 최대 100 개의 프로브를 동시에 조사 할 수 있습니다. TSK UF 60에는 자동 초점, LED 조명, 디지털 줌 및 쉽게 조정 할 수있는 전용 기울기 작업 표면이 있습니다. ACCRETECH UF 60은 직경 최대 3 인치 또는 반도체 표준 어셈블리 (SSA) 의 웨이퍼를 수용 할 수 있습니다. 이 Prober는 비접촉 (non-contact) 스캔용으로 설계되어 고속 및 저전력 스캔에 적합합니다. 또한, 나노 미터 수준에서 고해상도 스캔을 수행 할 수 있습니다. 또한, 이 검사는 사용자 친화적으로 설계되어 터치 스크린 운영 시스템을 갖춘 GUI (Graphical User Interface) 를 제공합니다. UF 60은 매우 견고성 (rugged) 한 구조로 설계되었으며, 각도와 높이 모두에서 정확한 프로브를 제공합니다. 프로버 (Prober) 는 자동 웨이퍼 프로빙 시스템과 쉽게 통합 할 수 있도록 설계되었습니다. 또한, 필요한 경우, 프로버는 빠른 테스트를 위해 완전 자동 모드로 작동 할 수 있으며, 초당 최대 50 개의 프로브를 허용합니다. ACCRETECH/TSK UF 60은 강력한 작동성을 가지고 있으며, 다양한 온도 극한에서 작동하여 안정적인 장기 작동을 제공합니다. 또한 X-Y 스테이지 (옵션) 를 사용하면 하나의 Prober로 여러 어레이를 사용할 수 있으므로 테스트 용량과 정밀도가 향상됩니다. TSK UF 60은 시간 소모적인 수동 보정을 없애고 사용자 정의 가능한 정렬 프로세스를 제공하는 사전 설정 (pre-set) 보정을 제공합니다. 전반적으로 ACCRETECH UF 60 prober는 안정적이고 정확한 최고의 웨이퍼 테스트 기계입니다. 다기능 기능, 사용자 친화적 GUI, 강력한 운영성 등을 갖춘 이 제품은 Wafer Testing 및 Characterization 을 위한 포괄적이고 사용이 간편한 솔루션을 제공합니다.