판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 300A #136391

ACCRETECH/TSK UF 300A는 집적 회로 (IC) 와 같은 현대 반도체 장치의 표면 분석을 위해 특별히 설계된 전문가입니다. TSK UF300A (Fully Automated Desktop Equipment) 는 반도체 표면에 대한 신뢰성, 정확성 및 반복 가능한 분석을 제공하는 완전 자동화된 데스크탑 장비입니다. 이 시스템은 자동 샘플 포지셔닝, 자동 보정 (automatic calibration), 통합 하드웨어/소프트웨어 (integrated hardware and software) 를 통해 운영 및 유지 관리가 용이합니다. ACCRETECH UF-300A는 기압과 표면 분석을 결합한 가변 압력 증명자입니다. 이 장치에는 반전 된 광학 현미경이 장착되어 있으며, 이 현미경은 샘플의 표면을 분산 영상 장치 (Spersive Imaging Unit) 로 가져옵니다. 광학 현미경은 실시간 검출기 (real-time detector) 로 기능하며, 표면의 미세한 피쳐와 요소에 대한 사용자 실시간 통찰력을 제공합니다. ACCRETECH UF 300 A 는 고속 자동 초점 머신 (autofocus machine) 을 사용하는데, 이 머신은 치수를 정확하고 정확하게 측정하기 위해 샘플 표면에 초점을 지속적으로 조정합니다. 이 고속 자동 초점 도구는 또한 표면 지형을 신속하게 해결할 수있는 Prober의 능력을 최적화합니다. 피에 조 (Piezo) 전기 모터는 미세한 모터 컨트롤을 제공하는 데 사용되며, 이를 통해 에셋이 표면을 정확하게 스캔 할 수 있습니다. UF 300A 통합 제어 모델을 사용하면 전체 샘플 분석 프로세스를 자동화할 수 있습니다. 이 장비는 측정 정확도, 반복 가능성, 자동 샘플 포지셔닝 등 포괄적인 데이터 수집/분석 기능을 제공합니다. 통합 PC 소프트웨어는 사용자의 결과에 대한 데이터 분석 (data analysis) 프로세스를 더욱 향상시켜 표본 (surface) 특성에 대한 정확하고 포괄적인 그림을 제공합니다. UF-300A는 현대 반도체 장치의 표면 분석에 필요한 도구입니다. 이들의 특징과 능력은 특히 예제의 미세한 특징을 분석하는 데 적합하다. & # 160; & # 160; 통합 제어 시스템 (Integrated Control System) 과 자동 샘플 포지셔닝 (Automated Sample Positioning) 은 프로세스를 촉진하여 결과의 정확성과 일관성을 더욱 향상시킵니다. 따라서 ACCRETECH/TSK UF-300A는 현대 반도체 장치의 표면 분석을 신뢰할 수 있고 정확한 프로세스로 만듭니다.