판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000LX #293800164
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ID: 293800164
빈티지: 2016
Automatic wafer prober
ST6731A Tester
MHF6000EX Hinge
Auto card changer
Ni chuck
Hot temperature
Chuck temperature range: 30°C - 150°C
Cleaning unit
GPIB Interface
OCR
Inker
Ethernet
2016 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000LX Prober는 고급 반도체 장치 특성을 위해 설계된 고성능, 고정밀 전기 테스트 장비입니다. 반도체 주사위 및 웨이퍼의 생산 테스트를위한 고급 플랫폼으로, 단일 웨이퍼 (wafer) 에서 최대 8,000 개의 파라 메트릭 결과 또는 단일 다이 (die) 에서 최대 2,000 개의 파라 메트릭 결과를 측정 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 금도금 프로브를 함유 한 프로브 헤드 (Probe Head) 가 장착되어 테스트 중인 장치와 정확하고 신뢰할 수있는 전기 접촉을 보장하며, 차동 전압, 정전, 저항, 인덕턴스 등의 다양한 지수가 측정 될 수 있습니다. 이 시스템은 또한 장치 자동 그룹 및 정렬, 다양한 유형의 데이터 로그 시스템에 직접 연결, DC 및 AC 구성 요소 테스트를위한 고급 테스트 드라이버 (Advanced Test Driver) 를 갖추고 있습니다. Prober에는 2 개의 애플리케이션 윈도우와 2 개의 결과 윈도우가 장착되어 있어 여러 장치의 테스트 결과를 손쉽게 모니터링, 분석, 비교할 수 있습니다. TSK UF 3000LX Prober는 테스트 기능 외에도 과열 보호, 과전압 보호, 전원 차단 (power-down) 재설정 등의 장비 보호 기능도 제공합니다. 이러한 모든 기능은 장치 테스트 환경의 안전성과 안정성을 보장하는 데 도움이 됩니다. 이 장치는 광범위한 작동 온도 범위 내에서 테스트를 수행할 수 있으며 여러 장치 (예: LED, 이산, IC) 를 자동으로 테스트할 수 있습니다. 또한, 인체 공학적 디자인과 사용자 친화적 인 인터페이스 (interface) 를 통해 쉽게 작동 할 수 있습니다. ACCRETECH UF3000LX Prober는 생산 테스트, 특히 반도체 산업을위한 강력하고 신뢰할 수있는 플랫폼입니다. 이 시스템은 성능, 안전, 안정성이 우수하며, 다양한 데이터 로그 (datalogging) 시스템과 쉽게 상호 작용할 수 있습니다. 또한, 이 툴은 효율성 및 사용자 친화성을 극대화할 수 있도록 설계되어 있어, 디바이스 테스트에 적합한 솔루션입니다.
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