판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9258199

ACCRETECH/TSK UF 3000EX는 Off-the-shelf integrated Circuit (IC) 구성 요소에 대한 고급 Probing 기능을 제공하는 전문가입니다. 이 도구는 예상되는 실리콘 성능을 충족하기 위해 IC 컴포넌트의 성능을 평가하는 데 사용됩니다. TSK UF3000EX는 소폭 포지셔닝을 통해, 반도체 테스트 엔지니어들이 중요한 성능 문제를 신속하고, 안정적이며, 효과적으로 파악할 수 있도록 지원합니다. ACCRETECH UF 3000 EX 의 작은 설치 공간과 슬림 디자인 (slim design) 은 생산 라인에 장착될 때 더욱 편리합니다. Prober의 사용자 친화적 인 디자인으로 쉽게 사용하고 탐색할 수 있습니다. 직관적인 메뉴 구조와 GUI (Graphical User Interface) 를 통해 반도체 테스트 엔지니어는 테스트 매개변수와 빠른 IC 샘플을 쉽게 구성할 수 있습니다. ACCRETECH UF 3000EX는 고성능 프로빙 기술 덕분에 탁월한 성능과 안정성을 제공합니다. 견고하고 안정적인 설계로 인해 밀도가 높은 패키지 IC 프로브 (Probe Densely Packed IC) 와 같은 실시간 프로브 애플리케이션에 적합합니다. 다중점 측정 기술 덕분에, 사용자는 하나의 테스트 설정만으로 복잡한 설계를 통해 대규모 IC를 손쉽게 탐사할 수 있습니다. UF3000EX는 정확성과 안정성 외에도 유연성을 위해 설계되었습니다. 이 모듈식 설계를 통해 사용자는 다른 IC 설계를 수용할 수 있도록 테스트 구성을 빠르고 쉽게 변경할 수 있습니다. 또한, 표준 기계식 인터페이스를 사용하면 압력 게이지, 열전대, 오실로스코프 (oscilloscope) 와 같은 다양한 기기와 PC를 빠르고 쉽게 연결할 수 있습니다. 결론적으로, TSK UF 3000 EX는 다재다능하고 신뢰할 수있는 전문가로서, 선반 외 IC 구성 요소를 조사하는 데 탁월한 성능과 유연성을 제공합니다. 사용자 친화적 설계와 결합된 높은 정확도의 마이크로 포지셔닝 (micro positioning) 기능을 통해 반도체 테스트 엔지니어는 IC 구성요소의 중요한 성능 문제를 빠르고 쉽게 파악할 수 있습니다. 또한, 모듈식 설계와 표준 기계식 인터페이스 (mechanical interface) 를 통해 다양한 IC 설계를 수용할 수 있도록 테스트 설정을 빠르고 쉽게 구성할 수 있습니다.