판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9253250

ACCRETECH/TSK UF 3000EX는 매크로 대 서브 미크론 레벨 조사 및 측정 테스트를 위해 설계된 전문가입니다. TSK UF3000EX는 장애 분석, 장치 및 시스템 테스트, 재료 특성 분석, 비접촉 프로세스 제어 등에 적합합니다. ACCRETECH UF 3000 EX는 매우 작고 컴팩트한 설계로, 정밀도가 중요하고 공간이 제한된 단단한 공간, 실험실, 생산 라인 및 기타 영역에 적합합니다. 프로버 (Prober) 는 0.03 ~ 30mm 범위의 깊이에서 조사 할 수 있으며, 작은 지역 내에서 엄청나게 상세한 분석을 가능하게합니다. ACCRETECH UF3000EX는 고해상도 광학 장치 및 레이저 빔 스캐닝 시스템 (Laser Beam Scanning System) 을 갖추고 있어 가장 작은 기능조차도 정확하게 측정 할 수 있습니다. 최대 프로빙 면적 650mm x 650mm 인 UF 3000 EX (UF 3000 EX) 는 더 큰 부품과 시스템에서 결함을 식별하기에 적합합니다. 프로버 (Prober) 는 또한 자동 현미경 높이 보상이 장착되어 있으며, 사용자가 현미경의 설정을 수동으로 조정하지 않고도 빠르고, 쉽게 측정 할 수 있습니다. ACCRETECH UF 3000EX의 최대 X-Y 해상도는 10nm이며 Y축 해상도는 최대 1 미크론입니다. UF 3000EX는 자동 포커스 제어 (focus control) 와 다양한 사용자 친화적 제어 기능을 제공하여 사용자에게 매우 친숙합니다. 프로버 (Prober) 는 또한 인체 공학적 인터페이스 (Ergonomic Interface) 를 특징으로하며, 사용자는 컴퓨터에서 테스트를 쉽게 프로그래밍하고 프로그램과 설정을 Prober에 로드할 수 있습니다. ACCRETECH/TSK UF 3000 EX 는 통합 이미지 프로세싱 및 분석 소프트웨어 패키지도 함께 제공하므로 데이터 분석 및 관리가 용이합니다. 소프트웨어는 특정 컴포넌트 및 시스템의 피쳐와 결함을 자동으로 검색, 계산, 라벨 지정, 측정하는 데 사용할 수 있습니다. 전체적으로 TSK UF 3000EX는 매크로에서 서브 미크론 레벨 테스트, 측정 및 분석을위한 최상위 프로버입니다. 작은 크기와 엄청나게 강력한 기능으로 인해 빈 공간 (Tight Space) 이나 생산 라인 (Production Line) 에서 사용할 수 있습니다. 자동 초점 제어 (automated focus control), 상세한 현미경 계산 (detailed microscope calculation) 및 통합 소프트웨어 (integrated software) 를 통해 테스트에서 최고 수준의 정확성과 세부 사항을 찾는 모든 엔지니어 또는 기술자에게 귀중한 툴이 됩니다.