판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9249853

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ID: 9249853
빈티지: 2007
Prober Cold system: -40°C Foup and cassette No extended loader Chuck type: LC12 (-40 to 150) Chiller type: ARTS-W3 HF Type: MHF9000EX CPU Type: Advme 7509 OCR Type: Top side: ESI Bullet Backside: ESI Bullet Platform: ADVANTEST T5383 APC PGV Unit Tilt unit Touch sensor Clean pad (280 mm x 150 mm) Single loadport FDD / USB Voltage: 200 V 2007 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000EX 웨이퍼 프로버는 웨이퍼 레벨 집적 회로 테스트에 사용되는 자동 프로빙 장비입니다. "웨이퍼 '에 여러 가지 전기" 테스트' 를 할 수 있는 완전 자동화 장치 이다. 이 장치는 대형 웨이퍼 (wafer) 까지 작은 크기를 지원할 수 있으며, 여러 칩을 동시에 테스트하기 위해 최대 24 개의 사이트를 확장 할 수 있습니다. TSK UF3000EX에는 완전 자동화 된 교정 기계, 인터페이스 신호 보드, 프로브 카드 및 자동 교정 도구가 있습니다. 자동 보정 에셋은 웨이퍼 상태 식별 (wafer state identification), 정확한 프로빙 각도 제어 (probing angle control) 및 신호 경로의 작은 오류에 대한 민감한 인식에 사용됩니다. 신호 "보드 '는 전기적 신호 를" 프로브 카드' 에 전달 한 다음, 시험 중 에 신호 를 "웨이퍼 '에 전달 한다. 프로버 (Prober) 는 웨이퍼에 안전하고 일관된 접촉을 유지하여 정확한 신호 연결을 보장합니다. 이 모델은 기존의 수동 프로브 (manual probing) 와 고급 자동 프로브 (automated probe) 요구 사항을 모두 충족하도록 설계되었습니다. 이 설계를 통해 기존 테스트 시스템 및 최신 컴퓨터 테스트 시스템 (Computerized Test System) 과 상호 작용할 수 있습니다. 또한 인터페이스 보드는 TSK DataGate 소프트웨어를 사용하여 다양한 소프트웨어 어플리케이션 (예: ATI) 을 지원합니다. 이 장비는 다양한 기능과 기능을 제공하여 다양한 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 어플리케이션에 적합합니다. 예를 들어, 시스템은 최대 50 개의 프로그래밍 가능한 사이트를 지원하므로 다양한 웨이퍼에 대한 테스트 (test) 를 설정할 수 있습니다. 또한, 이 장치는 신호 연결의 정확성을 보장하기 위해 고급 오류 수정 알고리즘을 제공합니다. 전반적으로 ACCRETECH UF 3000 EX 웨이퍼 (EX wafer) 검사는 단일 도구에서 가장 우수한 수동 및 자동 검사 기술을 제공하는 혁신적인 자동 검열 기계입니다. 이 자산은 광범위한 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 애플리케이션에 정확하고 안정적인 결과를 제공할 수 있습니다. 또한, 모델의 빠르고 정확한 자동 교정 장비와 견고한 인터페이스 보드 (interface board) 는 최적의 웨이퍼 테스트에 이상적인 선택입니다.
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