판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9243583

ACCRETECH/TSK UF 3000EX는 반도체 장치의 전기 기능을 테스트하고 검증하도록 설계된 전문가입니다. 소형 바디 (compact body) 가 특징이며 다양한 장치 프로브 카드를 수용 할 수 있습니다. TSK UF3000EX prober는 200mm 또는 300mm 웨이퍼 환경을 위해 설계되어 자동화된 웨이퍼 프로브 및 장치의 정확한 분석 테스트를 제공합니다. ACCRETECH UF 3000 EX에는 정확한 측정 및 이미지 인식 기능을 제공하는 고급 비전 장비가 장착되어 있습니다. 이를 통해 다양한 Probe 접점 (Contact Point) 을 효율적으로 측정할 수 있으므로 디바이스 매개변수를 정확하게 파악하고 측정할 수 있습니다. 이 시스템은 접촉력 (Contact Force) 을 자동으로 유지하여 섬세한 테스트 환경에서도 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. UF 3000EX 프로버에는 2 차원 진동 격리 테이블이 장착되어 있어 진동 (Vibration) 과 열변동 (Thermal Fluctuation) 오류의 영향을 줄여 정확도를 높일 수 있습니다. 또한, 프로버 (Prober) 는 웨이퍼 레벨 프로브 (Wafer-Level Probing) 를 가능하게하며, 밀접하게 통합 된 모션 컨트롤은 웨이퍼 (Wafer) 에 대한 프로버의 정확한 위치를 제공합니다. ACCRETECH UF 3000EX는 또한 기계 표면에서 먼지 입자를 지우도록 설계된 자동 청소 장치 (auto-clean unit) 를 갖추고 있어 지속적으로 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. Prober에는 입력 신호를 조정할 수있는 통합 최적화 도구와 데이터 획득, 여과, 분석을위한 DSP 기반 자산이 있습니다. 또한 ACCRETECH/TSK UF 3000 EX Prober는 반도체 장치 테스트에 대한 SEMI 표준을 준수하므로 사용자가 효율적인 장치 테스트를 얻을 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 ATE 시스템과의 데이터 교환을위한 인터페이스를 가지고 있으며, 이를 통해 사용자는 자동화된 테스트 프로세스의 일부로 Prober를 사용할 수 있습니다. 마지막으로, Prober는 매우 정확한 측정 및 데이터 관리 기능을 제공하며, 이를 통해 디바이스 성능을 정확하게 분석할 수 있습니다.