판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9160463

ACCRETECH/TSK UF 3000EX는 시선 선 프로빙 스테이션이 장착 된 전기 프로버 시스템입니다. 이 프로버는 반도체 산업을 포함한 여러 환경에서 수많은 컴포넌트를 측정하고 지각적 분석 (perceptive analysis) 을 수행 할 수 있습니다. TSK UF3000EX에는 장치 테스트, 장애 분석, 전기 측정, 리소그래피 분석 등 다양한 애플리케이션에 적합한 고유한 기능이 있습니다. "프로그램 '이 가능 한" 카메라' 를 이용 하여 광범위한 "트랜지스터 ', 기억 및 기타 장치 의" 이미지' 를 얻을 수 있다. 이 카메라는 해상도 최대 16비트, 명암비 컨트롤 최대 4,000: 1 및 조정 가능한 시야를 특징으로합니다. 동기화 (Synchronization) 옵션을 사용하면 다양한 각도에서 여러 뷰를 볼 수 있으며, 이는 정확한 측정에 매우 중요합니다. ACCRETECH UF 3000 EX는 또한 프로브에서 복잡한 움직임을 수행 할 수있는 차등 구동 서보 메커니즘을 사용합니다. 이 시스템의 변환 해상도는 25 나노 미터이며, 이중 축 이동 및 스캐닝 속도는 최대 250/sec입니다. 이를 통해 다양한 거리에서 빠르고 정확한 조사를 할 수 있습니다. 또한 ACCRETECH/TSK UF3000EX에는 리소그래피 분석을위한 Litho-Insight 소프트웨어가 있습니다. 이 소프트웨어는 테스트 중인 장치의 회로 패턴을 분석하기 위한 빠르고 사용하기 쉬운 방법을 제공합니다. 2 차원 이미지 상관 관계 분석 (Image Correlation) 을 수행하고, 회로를 쉽게 분석하고 시간을 절약할 수 있는 결과를 자세히 표시할 수 있습니다. 전체적으로 TSK UF 3000 EX 는 안정적이고 효율적인 Prober 시스템으로, 작동이 쉽고 매우 정확합니다. 광범위한 구성 요소, 장애 분석, 리소그래피 분석 (lithography analysis) 등을 테스트하는 데 적합하며, 반도체 업계에서 가장 일반적으로 사용됩니다.