판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9160372

ACCRETECH/TSK UF 3000EX 프로버는 웨이퍼 테스트 및 전기 광학 검사의 수율을 높이도록 설계된 차세대 전기 광학 프로버입니다. 최대 25 핀으로 직경 8 인치까지 웨이퍼를 조사 할 수 있습니다. 선택 가능한 수준의 민감도 (sensitivity) 가 특징이며, 가장 광범위한 Probing 응용 프로그램을 사용할 수 있습니다. 고급 XY 모션 시스템은 Probe 및 Mating Probe 모두에 대해 정확하고 일관된 데이터 수집을 보장합니다. TSK UF3000EX는 25 개의 독립 핀이있는 스타일러스 프로브 (stylus probe) 를 사용하여 웨이퍼에 단일 삽입으로 멀티 사이트 측정 및 현지화를 허용합니다. 프로브는 모든 유형의 웨이퍼에 최대 성능을 제공하도록 설계되었습니다. 정렬 (alignment) 및 힘 (force) 설정의 가상 전송을 위한 두 개의 선형 변형 센서가 있어 빠르고 효율적인 Probe 설정을 지원합니다. 프로버의 광학에는 응용 프로그램에 따라 1 ~ 2 대의 카메라를 장착 할 수 있습니다. 이렇게 하면 사용자 세부 검사 이미지를 빠르고 정확하게 검사할 수 있습니다. 카메라는 다른 파장을 허용하기 위해 필터를 입힐 수도 있습니다. 이를 통해 웨이퍼 (wafer) 의 광석학 패턴을 안전하게 관찰하여 보다 정확한 측정 결과와 실패 패턴 원인을 확인할 수 있습니다. ACCRETECH UF 3000 EX는 안정적이고 정확한 성능을 보장하기 위해 다양한 기능을 제공합니다. 프로브 (Probe) 팁의 손상을 방지하는 인터 록 (Interlock) 과 프로브 (Probe) 의 움직임에 의해 발생하는 열 수준을 모니터링하는 안전 회로가 내장되어 있습니다. TSK UF 3000EX에는 정렬 및 초점을위한 비전 시스템도 장착되어 있습니다. 이 시스템은 웨이퍼 (wafer) 에서 칩을 빠르고 정확하게 찾는 입자 인식 (particle recognition) 기능과 이미지의 통계적 분석을 허용하는 이미징 알고리즘 (imaging algorithm) 을 가지고 있습니다. 정확하고 일관된 성능을 얻기 위해 ACCRETECH UF3000EX는 폐쇄 루프 인코더 피드백을 사용합니다. UF3000EX prober는 웨이퍼 테스트 및 광학 검사 프로세스의 성능을 최대화하도록 설계되었습니다. 이는 높은 정확도 측정, 장애 패턴 확인, 탁월한 성능 등을 결합한 반도체 애플리케이션에 이상적입니다.