판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000EX #293617398

ACCRETECH/TSK UF 3000EX는 반도체 및 테스트 산업에 사용되는 고급 전문가입니다. 이 검사는 고해상도 UF 이미징 시스템을 갖춘 4 차원 (4D) 현미경을 갖추고 있으며, 다양한 유형의 반도체 구성 요소 및 재료에 대한 자세한 분석을 제공합니다. 고급 자동 검사 기술을 통해 사용자는 line/space/contact width, overlap, shorts, open circuit 등 반도체 구성 요소의 결함을 빠르고 정확하게 식별할 수 있습니다. 우수한 도량형 기술 및 대형 샘플 크기와 결합된 프로버 (Prober) 의 빠른 속도와 정확도는 반도체 신뢰성 테스트에 이상적입니다. Prober는 인라인 및 오프라인 테스트를 모두 수행할 수 있습니다. in-die 및 out-die 테스트 샘플을 분석하고 측정 할 수 있습니다. 다이 (in-die) 샘플의 경우, 프로버는 고해상도에서 광범위한 결함을 감지하고 측정 할 수 있습니다. 또한, 히스토리 로트 (History Lot) 데이터를 찾을 수 있으며, 이는 수율을 향상시키고 장치 웨이퍼를 줄이는 데 사용될 수 있습니다. Prober는 실시간 그래픽 분석도 제공하며, 이를 통해 디버깅 시간과 비용을 줄일 수 있습니다. 이 프로버에는 온도 조절 Probe Card 및 Yield Analyzer가 장착되어 있으며, 이는 단락, 열린 회로 및 기타 결함을 감지하기위한 안정적인 진단을 제공합니다. "센서 기술 자동 정렬 시스템" (Sensor Technologies Automated Alignment System) 을 사용하면 프로버가 웨이퍼에서 칩까지의 샘플을 정확하게 측정하여 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. Prober에는 4D 이미지 처리 및 패턴 인식 (Pattern Recognition) 기능도 있어 사용자가 패턴을 빠르고 정확하게 식별하고 찾을 수 있습니다. TSK UF3000EX 프로버 (Prober) 는 다양한 기능과 성능 수준으로 설계되어 반도체 테스트에 가장 적합한 제품입니다. 4D 이미징 시스템, 자동 기능 감지 (Automated Feature Detection), 이미지 처리 툴을 통해 광범위한 결함을 신속하게 파악하고 분석할 수 있습니다. 온도 조절 카드 및 분석기는 신뢰할 수있는 진단을 제공합니다. 마지막으로, 정교한 패턴 인식 (pattern recognition) 기능을 통해 사용자가 패턴을 빠르고 정확하게 식별하고 찾을 수 있습니다.