판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000EX-f #293597821
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ID: 293597821
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2013
Prober, 12"
Real time wafer map display
Multi-site probing function: 3-64 dies
Needle cleaning
RTGR-48 Probe card holder
Chuck type: Nickel, 12"
Offline ink function
Ink check function
Needle inspection
Profiler sensor
Accuracy: ±2 µm
Wafer diameter, 5"-12"
Thickness: 200-1000 um
Thickness variation: Less than ±50 um
Vacuum supply: Less than 50kPa, 30 liters/minute
X, Y-Axis:
Probing area: ±170 mm
Maximum speed: 500 mm/s
Resolution: 0.5um
Z-Axis:
Full stroke: 37 mm
Maximum speed: 30 mm/sec
Resolution: 3.75 um
Chuck Z control
Control accuracy: ±2 um
Over travel: 0~500um
0-Axis rotation range: ±4°
Resolution: 0.00028°
Fine alignment: CCD ITV Image processing
Hard Disk Drive (HDD)
Capacity: 40G bytes
Drive
Floppy Disk Drive (FDD)
Disk nominal size: 3.5"
USB Interface: External memory
Display: TFT High color LCD, 15"
Power supply: AC 220 ± 20 V, 3 kVA
2013 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000EX-f Prober는 실리콘 웨이퍼 장치 특성을 빠르고 정확하게 테스트하도록 설계된 고성능 생산 테스트 장치입니다. 완전 자동 (Fully Automated) 방식의 종합 장비로, 고속 (High Speed) 에서 웨이퍼를 테스트하는 데 필요한 모든 고급 기능이 포함되어 있습니다. TSK UF 3000EX-f Prober는 고급 기계화 프로빙 기술을 사용하며, 360 ° 가열된 플랫폼, 수평 및 수직 프로브, 레벨 센서, 데이터 시트 패라메트릭 테스트, 광학 검사, 온도 조절 환경 등 다양한 자동화 프로세스를 갖춘 최첨단 기술을 갖추고 있습니다. ACCRETECH UF 3000 EX-F Prober는 고정밀 웨이퍼 척 (Wafer Chuck) 과 같은 고급 기능을 갖추고 있으며, 직경이 최대 16 인치이며 다양한 두께를 수용 할 수 있습니다. 유연 리프트 (flexible lift) 시스템은 Z축에서 척을 빠르게 변환하여 웨이퍼의 두께를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 수평 및 수직 프로브는 최적의 동적 범위 (dynamic range) 를 위해 설계되었으며, 프로브 간의 충돌을 피하고 광범위한 프로브 포인트를 허용합니다. 프로브 장치에는 누출 탐지기 및 실패 분석을 포함한 다양한 ESD 테스트 옵션도 있습니다. TSK UF 3000 EX-F Prober의 Probe Card Module에는 256 채널, 640 채널 및 1024 채널을 포함한 여러 구성 옵션이 있습니다. 이를 통해 초고 조사 정확도와 훨씬 빠른 조사 속도가 가능합니다. 또한, 자동화된 기능을 통해 작업 설정을 쉽게 저장하고 리콜할 수 있습니다. 온도 조절 환경은 강력한 열 이미징 (thermal imaging) 카메라와 연계되어 뛰어난 반복성과 정확성을 보장합니다. ACCRETECH/TSK UF 3000 EX-F Prober에는 결함 감지을위한 광학 검토 장치도 제공됩니다. 이 기계는 고급 이미징을 사용하여 microedge 결함, 마모 입자 및 기타 이상을 감지합니다. 매우 정확하며, 가장 작은 로트 크기에서도 결함을 감지 할 수 있습니다. 이 소프트웨어를 통해 엔지니어는 이미지를 실시간으로 분석, 검토하고 신속하게 결정할 수 있습니다. 이 도구는 강력한 그래픽 사용자 인터페이스와 직관적인 드래그 앤 드롭 (drag-and-drop) 디자인으로 사용하기 쉽습니다. UF 3000EX-f Prober는 웨이퍼 및 기타 마이크로 일렉트로닉 장치를 빠르고 정확하게 테스트 할 수있는 강력한 도구입니다. 이 제품은 높은 반복 성능, 정확성, 속도를 제공하며, 운영 환경을 위한 안정적이고 강력한 테스트 솔루션입니다. 자동 (automated) 기능을 사용하면 작업 설정을 쉽게 저장하고 리콜할 수 있으며, 직관적인 인터페이스를 통해 쉽게 결과를 검토할 수 있습니다. 고급 기능과 기술 기능을 갖춘 UF 3000 EX-F Prober는 품질 테스트에 이상적인 전문가입니다.
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