판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000EX-e #9211360

ACCRETECH/TSK UF 3000EX-e 자동 검사는 웨이퍼 수준 장치를 테스트하고 검사하기 위해 설계되었습니다. Prober는 정확한 테스트 패턴 생성, 고속 웨이퍼 레벨 프로빙, 파라 메트릭 측정의 효과적인 성능을 제공합니다. TSK UF3000EX-E는 반도체, 미세 전기 기계 시스템 (MEMS), 박막 트랜지스터 (TFT), 박막 커패시터 (TFC) 및 유기 발광 다이오드 (OLED) 와 같은 광범위한 장치를 테스트 할 수 있습니다. 이 검사는 높은 정확도 검출 모드에서 시간당 150 개의 세그먼트로 최대 100mm 웨이퍼를 검사하여 빠르고 정밀한 테스트를 할 수 있습니다. ACCRETECH UF 3000 EXE는 AZS (Advanced Z-Axis Scanning System) 를 통해 중간 크기에서 작은 결함까지 감지할 수 있습니다. AZS는 대형 및 소형 웨이퍼 (wafer) 장치의 I/O를 감지하고, 주변 장치의 브리징, 부동 및 부재를 감지할 수 있습니다. 결과적으로 신호 대 잡음 비율의 미묘한 변화를 감지 할 수 있습니다. 검사 수행 시, Prober는 문제를 식별하고 소프트웨어를 통해 수정 조치를 취할 수 있습니다. 이 프로버는 또한 원격 배포 시스템 (Remote Distribution System) 을 지원하며, 이를 통해 반도체 엔지니어는 스마트 폰을 사용하여 패턴을 작동 및 수정할 수 있습니다. 또한 ACCRETECH UF 3000EX-e는 Real-Time Data Transfer System과 안전한 환경의 다양한 장치와 테스트 결과를 편리하게 공유할 수 있습니다. TSK UF 3000EX-e prober는 원활한 작동을 보장하면서 정확하고 효율적인 결과를 제공합니다. 즉, 통합된 설계를 통해 장비가 꺼져 있을 때에도 데이터 연속성을 유지할 수 있습니다. 이 Prober는 또한 첨단 소프트웨어 (Advanced Software) 와 통합하여 테스트에서 향상된 안정성과 반복성을 제공할 수 있습니다. 파라메트릭 (parametric) 변동 모니터링을 통해 사용자는 테스트 번호의 문제를 신속하게 감지할 수 있습니다. 또한, 프로버는 자동 다이아몬드 프로브 (diamond probe) 보호기를 특징으로하여 프로브 마모와 눈물을 효과적으로 방지합니다. 또한, 컨택트 포스 센서는 정확한 결과를 만들어 엔지니어가 정확하고 신뢰할 수있는 테스트 결과를 제공합니다. UF 3000 EX-E (EX-E Prober) 는 높은 속도로 웨이퍼 테스트를 수행하기 위해 안정적이고 효율적인 전문가를 찾는 모든 회사에 적합한 선택입니다. 유지 보수 요건이 낮고, 구축이 견고한 이 Prober는 정확한 결과를 제공하고, 원활한 테스트 경험을 제공할 수 있습니다.