판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9408930

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제조사
ACCRETECH / TSK
모델
UF 3000
ID: 9408930
웨이퍼 크기: 12"
Prober, 12" Chuck material: NICKEL Hard Disk Drive (HDD) Floppy Disk Drive (FDD), 3.5" Magneto optical drive Head stage Loader Type: FOUP and open cassette Dual robotic wafer transport arms Pre-alignment stage unit Auto needle alignment Camera X, Y Dual heidenhain scales Color LCD Control panel with touch panel switches Alarm lamp pole Options: Hot chuck: 30°C - 150°C Wafer ID Recognition Needle cleaning option: Wafer type and polish plate Multi site parallel probing Fail mark inspection system Probe mark inspection system GPIB Interface Ethernet interface Automatic probe card changer Image processing board Bump height setting Group index Multi pass probing Printer Network: Veganet Tester and manipulator: ST MT72.
ACCRETECH/TSK UF 3000은 반도체 산업에서 자동 테스트를 위해 설계된 전문가입니다. 다양한 광학 및 기계 하위 시스템을 사용하여 정확하고 반복 가능한 측정을 제공하는, 우월하고, 정밀하고, 비접촉 (non-contact) 프로버입니다. TSK UF 3000 의 컴팩트한 디자인과 터치프리 (touch-free) 테스트 기능을 통해 처리량을 높이고 반도체 제조 작업의 수율을 향상시키는 데 유용한 툴입니다. 한 번의 다이 (die) 에서 최대 24 개의 포인트 (point) 를 동시에 테스트할 수 있어 대규모 생산 실행에 이상적입니다. ACCRETECH UF3000은 x-y 단계를 특징으로하며 테스트 다이를 보유, 이동 및 정위하는 데 사용됩니다. 일단 "다이 '가 위치 에 있게 되면," 레이저' 한 줄 이 그 "레이저 '를 검사 하여 시험 지점 을 측정 한다. 강력하고 통합된 Vision Algorithm은 결함 있는 다이를 자동으로 감지하여 정확하고 안정적인 결과를 제공합니다. 이 시각 기반 시스템은 10 미크론의 결함을 감지하기에 충분히 강력합니다. ACCRETECH UF 3000에는 사용자 친화적 인 인터페이스, 직관적인 진단, 종합적인 데이터 출력 옵션 (Data Output Option) 등 다양한 기능을 사용할 수 있습니다. 이 인터페이스를 통해 사용자는 샘플 크기 (size), 테스트 주파수 (test frequency), 공차 (tolerance) 와 같은 중요한 매개변수를 조정할 수 있으므로 특정 요구 사항에 맞게 시스템을 쉽게 사용자 정의할 수 있습니다. 내장형 진단 유틸리티는 실시간 오류 메시지와 상태 정보를 제공하여 다운타임을 최소화하고 품질 관리 (Quality Control) 를 보장합니다. 출력 (Output) 옵션을 사용하면 데이터를 다양한 디바이스로 전송할 수 있으므로 결과를 보다 쉽게 검토하고 분석할 수 있습니다. 전반적으로, UF3000은 다재다능하고, 강력하며, 매우 정확한 증거로, 반도체 테스트 작업에 적합한 선택입니다. 고급 기능으로 정밀 테스트 (precision testing) 및 수율 개선을위한 탁월한 옵션입니다.
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