판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9407066

ACCRETECH/TSK UF 3000은 웨이퍼 프로브 테스트 (wafer probe test) 및 결함 검토를 위해 반도체 산업에 광범위한 응용 분야를 갖춘 표면 도량형 전문가입니다. TSK UF 3000 은 다양한 형식으로 사용할 수 있도록 설계되었으며, 높은 정확도, 모든 각도, 고속 측정 성능을 제공합니다. ACCRETECH UF3000은 AutoFocus 레이저 장비를 사용하여 샘플의 표면을 반복적으로, 정확하게 측정 할 수 있습니다. 이 시스템은 자동 초점 레이저 다이오드 (auto-focus laser diode) 를 사용하여 샘플의 기울기 각도에 관계없이 정확하고 반복 가능한 측정을 보장합니다. ACCRETECH/TSK UF3000은 또한 측정의 정확성과 반복성을 보장하는 높은 정확도 듀얼 엔드 선형 단계를 포함합니다. 프로버는 또한 비 접촉 표면 프로브, 현미경 이미징 및 접촉 프로브 (contact probing) 를 포함한 광범위한 측정 기능을 가지고 있습니다. UF3000 은 유연한 스캐닝 패턴 (scanning pattern) 과 작은 측정 영역 (small measurement area) 을 갖추고 있어 샘플의 표면을 상세하게 조사하고 이미징할 수 있습니다. 이 스캔 장치는 서로 다른 기능 크기의 빠르고 정확한 측정을 제공합니다. UF 3000은 또한 고급 이미지 획득 및 이미지 처리 머신 (Image Processing Machine) 을 갖추고 있으며, 이는 표면 거칠기, 마이크로 구조 및 표면 결함과 같은 다양한 기능을 측정 할 수 있습니다. TSK UF3000은 또한 표면의 필름 및 마이크로 레이어의 두께를 측정 할 수 있습니다. ACCRETECH UF 3000에는 마이크로 제어 장치가 장착되어 있어 ACCRETECH/TSK UF 3000의 측정 및 기능을 자동으로 제어 할 수 있습니다. 이를 통해 많은 지루한 Prober 작업을 자동화할 수 있으며, 속도와 정확도를 높일 수 있습니다. 전체적으로 TSK UF 3000은 웨이퍼 프로브 테스트, 결함 검토 및 기타 표면 측정에 대한 사용자 친화적, 정확도 및 다재다능한 전문가입니다. 또한 ACCRETECH UF3000 은 비용 효율성이 높아 반도체 업계의 광범위한 애플리케이션에 적합합니다.