판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9407060

ACCRETECH/TSK UF 3000은 반도체 장치의 고급 분석을 위해 설계된 전문가입니다. 이 장비는 두 가지 수준의 광범위한 기능을 제공합니다. 즉, 반도체 장치의 전기 특성 분석을위한 고속 (High Speed) 및 높은 정확도 조사 (High Accuracy Probing) 입니다. TSK UF 3000은 전압, 전류, 전력, 임피던스, 주파수와 같은 반도체 장치 및 칩의 전기 매개변수를 빠르게 측정 할 수 있습니다. 또한 커패시턴스, 저항, 인덕턴스, 주파수, 온도, 압력 등 어셈블리 및 이산 컴포넌트의 특성을 정확하게 측정합니다. UF 모델은 세계적으로 유명한 1 ½ m Z축 해상도와 정밀 프로빙 기능을 갖춘 고속 단일 핀/멀티 핀 XYZ 프로브를 제공합니다. 또한, 강력하고 사용하기 쉬운 인터페이스와 자동화된 보드 정렬, 측정 조정 (measurement coordination) 기능 등 다양한 맞춤형 기능을 갖추고 있습니다. 또한 ACCRETECH UF3000에는 장치 및 회로 기능에 대한 자세한 분석을 허용하는 여러 운영 모드가 있습니다. 프로그래밍 기능을 통해 사용자는 무제한의 Probe 테스트를 설정하고 저장할 수 있으므로 ACCRETECH UF 3000은 IC 개발 및 장애 분석에 이상적입니다. UF 3000은 장치 특성화, 하이엔드 프로브, 패키징 개발, 회로 측정 및 디버깅, LCD 테스트, 임베디드 시스템, MEMS 테스트 및 개발, 고주파 특성, 임베디드 보드 테스트 등 다양한 어플리케이션을 위해 설계되었습니다. 이 프로버 (Prober) 는 또한 효과적인 장치 프로그래밍 및 테스트를위한 강력한 플랫폼이며, 쉽게 조작하고 테스트 시뮬레이션을 생성할 수 있습니다. ACCRETECH/TSK UF3000 은 유연하고, 신뢰할 수 있는 플랫폼으로, 디바이스 테스트를 수행하고, 안정적인 테스트 결과를 얻을 수 있는 속도와 정확성을 제공합니다. 이 프로버 (Prober) 는 고성능 반도체 (Semiconductor) 및 임베디드 시스템 테스트 (Embedded System Testing) 를 수행하는 데 이상적인 기능과 기능을 갖추고 있으며 복잡한 전자 장치의 전기 매개변수에 대한 귀중한 통찰력을 제공합니다.