판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9407056

ACCRETECH/TSK UF 3000은 반도체 구성 요소의 테스트 및 검사를 용이하게하도록 설계된 고급 프로브 스테이션입니다. TSK UF 3000 은 패키지 및 다이 레벨 (die-level) 디바이스에 대한 전기적 특성화 및 분석을 제공할 수 있으며, 측정 대상 디바이스의 테스트 포인트에 대한 정확한 접촉을 위한 높은 정확도 조사 솔루션에 의존합니다. ACCRETECH UF3000 은 정밀한 모션 제어 시스템을 갖추고 있어 정확한 스캐닝 및 포지셔닝 기능을 제공하므로 Probe 프로세스의 효율성이 크게 향상됩니다. ACCRETECH/TSK UF3000은 고급 테스트 요구 사항을 충족하도록 설계되어 PGA (pin-grid array), BGA (ball-grid array), QFP (quad flatpacks) 또는 leadless chip Crier (Leadless Cip Carrier) 와 같은 다양한 패키지에서 다양한 장치를 테스트할 수 있습니다. 수동형 (Passive) AC 프로빙 솔루션을 채택하여 고가의 고주파 (High-Frequency) 시스템을 필요로 하지 않고, 측정 프로세스에 높은 수준의 정확성과 반복성을 제공합니다. UF 3000 은 또한 자가 보정 감지 기능을 제공하여 미소 미터 범위에서 정확한 피드백 제어 및 반복 가능한 위치 반복 기능을 제공합니다. 이 장치에는 또한 열 영향이 낮은 글로벌 스테이지 보상 (Global Stage Compensation) 이 포함되어 있어 장기 조사 기간 동안 향상된 열 성능 및 반복 성을 제공합니다. 최대 수준의 반복성 (repeativility) 과 정확성을 위해 이 장치에는 능동적인 공압 마이크로 포지셔너 (micro-positioner) 가 장착되어 있어 장치의 테스트 지점과 정확하고 안정적으로 접촉할 수 있습니다. 또한 ACCRETECH UF 3000 은 고급 데이터 분석 기능과 개방형 아키텍처 소프트웨어 (Open Architecture Software) 를 갖추고 있어 플로팅 다이어그램을 볼 수 있으며 로그 및 선형 확장과 같은 다양한 데이터 기능에 액세스할 수 있습니다. 다른 기기와의 호환성을 보장하기 위해 Probe 스테이션은 다양한 통신 프로토콜을 위한 비자 (VISA) 인터페이스를 제공합니다. 전체적으로, TSK UF3000은 다양한 반도체 패키지에 대한 정확하고 반복 가능한 테스트를 위해 높은 정확도 프로브를 제공하도록 설계된 고급 프로버 스테이션 (Advanced Prober Station) 입니다. 정밀 동작 제어 시스템 (precision motion control system), 자가 수정 감지 (self-correction sensing) 및 능동 열 제어 (active thermal control) 는 신뢰할 수 있고 반복 가능한 측정치를 제공하는 반면, 고급 데이터 분석 및 통신 기능은 데이터와 결과에 빠르고 쉽게 액세스 할 수 있습니다.