판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9375638

ACCRETECH/TSK UF 3000은 최신 반도체 장치의 고급 고장 분석을 위해 설계된 전문가입니다. 이 Prober를 사용하면 잠재적인 결함을 빠르고, 쉽게 파악하고, 격리하고, 문제를 해결할 수 있으며, 고급 장애 분석 (Advanced Failure Analysis) 을 훨씬 빠르고 효율적으로 수행할 수 있습니다. TSK UF 3000 프로버는 8 인치 웨이퍼 용량이 큽니다. 프로브 (Probe) 사이트의 자세한 이미지를 얻을 수 있는 조절 가능한 고해상도 비디오 카메라가 특징이며 다양한 임피던스 (Impedance) 및 전원 테스트 (Power Test) 를 수행할 수 있습니다. 이 검사는 고정밀도에 최적화되어 0.1 마이크로미터 이내까지 정확합니다. Probe 팁에는 정확한 모션 제어를 위한 3축 디지털 서보 컨트롤러가 장착되어 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 실시간 성능 측정과 프로브 결과의 자동 로깅을 제공하는 내장 측정 시스템이 장착되어 있습니다. 전압, 전류, 온도 등 다양한 테스트 조건과 측정 매개변수를 처리할 수 있습니다. 이 검사는 완전히 프로그래밍 가능하며, 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 와 평가 (evaluation) 에서 결함 식별에 이르기까지 다양한 응용 프로그램에서 사용할 수 있습니다. ACCRETECH UF3000 Prober는 광범위한 패라메트릭 정보를 모니터링할 수도 있습니다. 고주파 응답, 주파수 응답 및 차등 정전용량을 측정할 수 있습니다. 이 Prober는 또한 Power-rail 전압 감소 및 Power-on/Power-off 안정성과 같은 전원 측정을 수행 할 수 있습니다. 또한 s-parameters 및 PISR (pulse-induced shift rate) 을 캡처하여 낮은 수준의 노이즈 성능을 측정 할 수 있습니다. 이 프로버는 0.4 미크론의 결함을 감지 할 수있는 고밀도 이미징을 포함합니다. 3D 다이 스태킹 (die stacking), 임베디드 및 이산 박막 구조 사용 등 다양한 집적 회로 특성과 함께 사용할 수 있습니다. 또한, 프로버는 에치 후 검사에 사용될 수 있으며, 기존 측정 제어 시스템과 완벽하게 호환되도록 설계되었습니다. UF 3000 Prober는 향상된 장애 분석 (Failure Analysis) 을 빠르고 효율적으로 수행하도록 설계된 뛰어난 정확도, 속도, 전력 조합을 제공합니다. 사용자 친화적으로 설계되었으며, 직관적인 인터페이스 (interface) 를 통해 사용자가 신속하게 설치, 실행할 수 있습니다. 이 제품은 다양한 최신 반도체 (semiconductor) 디바이스를 조사, 테스트할 수 있는 다양한 기능과 성능 기능을 제공합니다.