판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9357332

ACCRETECH/TSK UF 3000 Prober는 웨이퍼 장치 어셈블리에서 전기 테스트를 수행하도록 설계된 고성능 반도체 프로브 테스트 장비입니다. 시스템은 XYZ 모션 스테이지 (motion stage) 를 사용하여 스테이지에 장착된 웨이퍼 어셈블리에 프로브 카드를 배치합니다. 프로브 (Probe) 카드는 장치를 상대적인 위치로 이동시키는 로봇 암 (robotic arm) 에 의해 제어됩니다. TSK UF 3000은 Probe 카드 위치를 정확하게 제어하기위한 멀티 채널 패턴 인식 기술을 제공합니다. ACCRETECH UF3000 은 매우 빠른 Probe 속도를 제공하며 가장 까다로운 테스트 조건에서도 높은 정확도를 유지합니다. 이 장치에는 다양한 테스트 응용 프로그램을 충족시키기 위해 다양한 프로브 (Probe) 와 액세서리 (Accessory) 가 있습니다. Fault Detection (장애 감지) 및 ISO (격리 기능) 기능이 내장되어 있어 지정된 디바이스에서 짧고 개방적인 장애를 감지할 수 있습니다. 또한 UF3000에는 보정 및 테스트 절차 라이브러리가 내장되어 있습니다. 이 라이브러리에는 테스트 매개변수 (test parameters) 와 데이터를 포함하며, 이 매개변수는 컴퓨터에 직접 다운로드하거나 업로드할 수 있습니다. ACCRETECH UF 3000에는 두 가지 유형의 전기 측정 모드가 있습니다. 첫 번째 모드는 정상 상태 (steady-state) 측정으로, 적절한 프로브를 장치에 삽입하고, 전압 및 전류 신호를 캡처한 다음, 시간 (time) 및 주파수 (frequency) 도메인 분석을 수행하고 측정 결과를 표시합니다. 두 번째 모드는 일시적 상태 (Transient-state) 측정으로, 작업의 다른 단계에서 장치의 전압 및 전류 신호를 캡처하는 특수 프로브 (Probe) 를 사용하여 수행됩니다. 일시가 캡처된 후에는 공구의 LCD 화면에 분석, 표시됩니다. ACCRETECH/TSK UF3000은 또한 현장 소프트 테스트, 오프 웨이퍼 얕은 트렌치 격리 테스트, 비 침습적 시각 검사 등 다양한 진단 옵션을 제공합니다. 소프트 테스트 (soft testing) 모드에서 probe 카드는 장치의 전기 매개변수를 웨이퍼 (wafer) 형태로 측정하는 데 사용됩니다. 얕은 트렌치 격리 테스트 (Shallow trench isolation testing) 는 기존의 전기 테스트에서 종종 누락되는 장치 내부의 결함을 감지 할 수 있습니다. 이 유형의 테스트는 비파괴 방식으로 수행되며, 최소한의 노력이 필요합니다. 마지막으로, 비침습적 시각 검사 (non-invasive visual inspection) 를 사용하여 조립 전후의 장치 구조를 확인할 수 있습니다. UF 3000은 운영자의 개입을 최소화하고 테스트 효율성을 극대화하도록 설계되었습니다. Probe 카드는 샘플 활용도를 극대화하고 테스트 시간을 줄이기 위해 설계되었습니다. 이 자산은 또한 자동 신호 분석 (Automatic Signal Analysis) 및 장애 감지 (Fault Detection) 기능을 제공하여 수동 테스트의 필요성을 크게 줄입니다. 내장형 원격 제어 기능을 통해 사용자는 어디서나 테스트 모델에 쉽게 액세스하고 모니터링할 수 있습니다. 또한, 테스트 결과를 저장할 수 있는 확장 가능한 데이터 관리 장비가 있습니다. 전체적으로 TSK UF3000 Prober 는 다양한 Wafer 어셈블리에 대한 고성능 테스트를 수행할 수 있는, 고급적이고 안정적인 테스트 시스템입니다. 내장된 기능과 기능을 통해 다양한 애플리케이션에 이상적인 테스트 솔루션으로 자리잡았습니다.