판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9354727
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ID: 9354727
빈티지: 2005
Prober
Hot chuck nickel
40-Figures internal printer
COGNEX OCR Reader and T7 reader (Front / Back reading)
Multi function cleaning (Maximum 3 area)
Touch sensor
Tag reader for FOUP cassette
Remote terminal kit
Dew point meter
Chuck blow
Base unit with stretched loader
Hot chuck nickel (Ambient to 150°C)
Single FOUP loader, 12"
Loader cover to protect open cassette, 8"
Image data processing system
Automatic PTPA / Needle height alignment
Veganet SECS / GEM
Ethernet I/F
GPIB I/F With cable
Probe Mark Inspection (PMI)
Real time wafer map display
Multi die test up to 256
Signal tower
Bump height setting
Group index
Prober monitoring SBL, BM, YPS, RC
Multi pass probing
Soak time
APC 440
Automatic probe card charger
Combo head plate
Insert ring for tester
Service manipulator
Pre-hinge
CE Marked
2005 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000은 광범위한 반도체 생산 및 연구 응용 프로그램을 위해 설계된 Prober 장비입니다. 신형 소재· 기기를 평가하고, 부품에 대한 빠른 테스트, 본격적인 생산 등을 제공하는 강력한 도구다. TSK UF 3000 의 독보적인 기능인 TSK UF 3000 은 광범위한 조정 기능, 신속한 테스트 기능, 데이터 수집 소프트웨어 기반 인터페이스 등을 갖추고 있습니다. ACC RETECHACCRETECH UF3000의 보정 기능을 사용하면 저항, 정전량, 전압, 전류, 온도 등 다양한 매개변수를 정확하게 측정할 수 있습니다. 이 프로버 시스템 (Prober System) 은 높은 정확도와 빠른 회전 시간 (turn-around time) 으로 이러한 매개변수를 측정할 수 있으므로 생산 및 연구 애플리케이션에 이상적인 선택입니다. ACCRETECH/TSK UF3000은 빠른 테스트 기능도 제공합니다. 컴포넌트를 빠르고 정확하게 측정하고 검증할 수 있으며, 매개변수 설정 (establish parameters) 도 가능합니다. 따라서 운영 시작 전에 구성 요소가 양호한지, 아니면 양호한지 신속하게 확인할 수 있습니다. 또한 TSK UF3000 은 소프트웨어 기반 인터페이스와 통합되어 데이터 수집 및 진단 기능을 제공합니다. 따라서 Probe 의 성능을 손쉽게 모니터링하고 데이터를 보다 효율적으로 분석할 수 있습니다. 또한 GUI 를 사용하면 장치와 신속하게 통신하고 실시간 피드백을 확인할 수 있습니다. 마지막으로 ACCRETECH UF 3000에는 추가 정밀도 및 사용자 정의 가능한 설정을 위한 x5 확대 현미경이 내장되어 있습니다. 따라서 구성 요소를 여러 레벨의 세부 (detail) 로 볼 수 있어 정확성과 품질을 보장할 수 있습니다. UF3000 은 모든 유형의 운영, 연구, 진단 애플리케이션에 적합한 강력한 Prober Machine 입니다. 광범위한 교정 기능, 신속한 테스트 기능, 데이터 수집용 소프트웨어 인터페이스, 내장형 현미경 등은 사용자에게 품질, 정확성, 신뢰성을 제공합니다.
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