판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9354562

ACCRETECH/TSK UF 3000은 반도체 장치 및 재료 특성 테스트를 위해 설계된 고급 전문가입니다. 간편하고 모듈식 (modular) 아키텍처를 통해 기능을 손쉽게 확장할 수 있습니다. TSK UF 3000에는 15nTorr이 가능한 높은 진공 챔버 (via-holes), 다중 계층 기판 검사 및 접촉 특성화 기능이 있습니다. 이 도구에는 고해상도를 위한 2D 및 3D 이미징이 모두 포함된 고급 비전 시스템이 있습니다. 고밀도 XY (Dual High Precision XY) 단계를 사용하여 프로버는 장치를 통해 쉽게 이동하고 검사를 위해 이미지를 정확하게 캡처할 수 있습니다. 또한 ACCRETECH UF3000은보다 정확한 장치 조사를 위해 6 개의 고정밀 세타 단계를 가지고 있습니다. ACCRETECH UF 3000에는 효율적인 칩 프로브를 가능하게 하는 다양한 기능도 포함되어 있습니다. 고급 기판 제어 시스템 (Advanced Substrate Control System) 이 있으며, 이 시스템에는 웨이퍼 표면에서 물리적 결함을 스캔하고 감지 할 수있는 독특한 디자인이 포함되어 있습니다. 이 시스템은 패드 (pad) 및 프로브 접촉 (probe contact) 측정에도 사용할 수 있으며 사용자가 정확하고 반복 가능한 결과를 제공합니다. 테스트 결과의 정확성과 일관성을 보장하기 위해 UF3000 (UF3000) 은 사전 설정된 테스트 작업 절차와 함께 스캔 진동 매개변수 (scan oscillation parameters) 를 설정할 수 있는 컨트롤러가 내장되어 있습니다. 또한, UF 3000은 전문가의 뒷면에 쉽게 액세스 할 수있는 인체 공학적 디자인을 가지고 있습니다. 이렇게 함 으로 "펌프 '," 탱크' 및 "칠러 '와 같은 모든 부품 은 쉽게 정비 및 정비 할 수 있게 된다. 또한 이 설계를 통해 디바이스 로드 및 언로드가 빨라지고 Probe 주기 (Probe Cycle) 시간을 단축하여 생산성을 높일 수 있습니다. 또한 TSK UF3000은 웨이퍼 보호 및 오염 방지를위한 2 개의 솔레노이드 셔터 (solenoid shutter) 를 포함하여 향상된 안전 및 보안 기능을 제공합니다. 또한 소음 모니터링 센서 (Noise Monitoring Sensor) 가 장착되어 있어 장비를 손상시키거나 손상시킬 수 있는 비정상적으로 높은 소음 수준 (Noise Level) 을 감지하고 경고합니다. 전반적으로 ACCRETECH/TSK UF3000 Prober는 반도체 장치 테스트에 필요한 모든 기능을 포함하는 고급 테스트 및 특성 도구입니다. 효율적인 칩 프로브를 위해 높은 진공 챔버, 이중 XY 스테이지, 고정밀 세타 스테이지, 고급 비전 시스템 및 임베디드 컨트롤러를 제공합니다. 또한, 인체 공학적 설계는 더 빠른 장치 로드 및 언로드를 위해 Prober의 뒷면에 쉽게 액세스 할 수 있습니다. 마지막으로, 안전 (Safety) 및 보안 (Security) 기능을 통해 웨이퍼와 장비가 손상이나 손상으로부터 보호됩니다.