판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9350284

ACCRETECH/TSK UF 3000은 프로세스 분석 및 제품 개발을 위해 설계된 Prober 장비입니다. 주사 전자 현미경 (SEM), 에너지 분산 분광법 (EDS), 고급 광학을 결합하여 이미지와 데이터를 높은 정확도와 정밀도로 제공하는 고급 고급 도량형 시스템입니다. TSK UF 3000은 복잡한 물질에 대한 상세한 비파괴 분석을 제공 할 수 있습니다. ACCRETECH UF3000은 모듈식 설계를 통해 쉽게 액세스하고 설치할 수 있습니다. 자동화된 기능은 빠른 프로세스 모니터링 및 프로세스 제어 기능을 제공합니다. 또한 극한 온도, 높은 습도, 진공 상태 등 다양한 조건에서 작동하도록 설계되었습니다. 이 장치에는 분석을 위해 샘플 이미지를 캡처하기위한 고해상도 CCD 카메라가 포함되어 있습니다. 또한 표면 이동을 측정하고 표면 피쳐를 검사하기위한 이미징 머신 (imaging machine) 도 포함되어 있습니다. UF 3000에는 고해상도 이미지를 생성하는 5 개의 좁은 빔과 스펙트럼 분석 기능이 포함 된 멀티 채널 4 아웃 (four-out) 솔루션이 장착되어 있습니다. CVD, RTP 및 기타 프로세스를 위해 설계된 4 중 솔루션에는 저에너지, 중간 에너지, 고에너지 및 펄스 X- 선 방출 분광법 옵션도 포함됩니다. 또한, 이 도구는 샘플 왜곡을 최소화하기 위해 자동, 연속 드리프트 교정을 제공합니다. UF3000의 고급 이미징 기능은 프로세스 제어 및 개발에도 사용됩니다. 모서리 검출 (edge detection) 및 추출 (extraction) 기능은 피쳐와 나노 구조의 정확한 특성화 및 측정을 가능하게하며, 입자 분석 기능을 통해 입자의 크기와 존재를 분석하는 데 사용될 수 있습니다. 또한 EDX 및 EBSD 데이터를 결합하여 품질 보증 매개변수를 제공하는 고급 기능 이미징을 제공합니다. ACCRETECH/TSK UF3000은 프로세스 분석을 위해 설계된 고급 도량형 자산입니다. 유연한 설계와 모듈식 (modular) 구성을 통해 빠르고 쉽게 설치, 설치할 수 있으며 멀티플렉스 (multiplex) 솔루션은 처리 및 분석을 위한 광범위한 데이터 복잡성을 제공합니다. 재료의 정확하고 파괴적이지 않은 비 접촉 측정을 제공하도록 설계되었습니다. 고급 이미징 및 스펙트럼 분석 기능을 통해 자세한 특성화 및 프로세스 제어를 수행할 수 있습니다.