판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9312312

제조사
ACCRETECH / TSK
모델
UF 3000
ID: 9312312
빈티지: 2006
Wafer prober 2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000은 웨이퍼 검사 및 고급 장치 테스트에 사용되는 고성능 전문가입니다. 이 제품은 복잡한 디바이스의 운영 성능을 적시에 평가할 수 있는 뛰어난 속도 (speed) 와 정밀도 (precision) 를 제공합니다. TSK UF 3000 은 확대율이 높은 객관형 렌즈와 에너지 소스를 통해 짧은 시간 내에 여러 표면을 검사할 수 있습니다. ACCRETECH UF3000의 목표 렌즈 (objective lens) 범위는 5X에서 500X이며 최대 105mm입니다. 반사광과 눈부심을 줄이는 밝은 LED 표시등이 있으며, 단단한 X-Y-Z 스테이지는 진동이 적고 정확도가 높은 고대비 이미징 환경을 제공합니다. 고해상도 이미지 디스플레이, 동적 초점 제어, 조정 가능한 작업 거리를 통해 ACCRETECH UF 3000은 각도가 다른 다양한 기판의 세부 사항을 검사하는 데 매우 효율적입니다. 또한 "UF 3000 '에는 기판 의 크기 와 물질 에 따라 조정 할 수 있는 강력 한 전계 방출" 에너지' 원 이 들어 있다. 동적 프로브의 현재 매개변수를 정확하게 측정 할 수있는 닫힌 루프 (closed-loop) 전압 모듈이 있습니다. 이를 통해 프로토 타입 (prototype) 장치의 전기적 매개변수를 얻고, 새로운 디바이스의 전기적 특성, 결함을 실험적으로 살펴보고, 디바이스 테스트의 단점을 진단할 수 있습니다. TSK UF3000 의 측정 및 테스트 기능은 외부 USB 포트를 통해 제어되며, 이 포트는 데이터 관리 (data management) 및 측정 데이터의 실시간 관찰에도 사용할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 호스트 컴퓨터에서 디바이스의 작동을 모니터링하여 프로세스를 보다 효율적이고 사용자 친화적으로 수행할 수 있습니다 (영문). UF3000 (UF3000) 은 다양한 기판에서 정확한 테스트를 수행하기 위해 고성능 기기를 찾는 사람들에게 완벽한 전문가입니다. 강력한 에너지 원, 높은 배율 렌즈 및 외부 제어를 위한 USB 포트가 특징입니다. 따라서 시제품을 효율적으로 테스트하고, 장애를 빠르고 쉽게 진단할 수 있습니다.
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