판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9311289

ACCRETECH/TSK UF 3000 은 반도체 및 집적 회로 테스트 (Integrated Circuit Testing) 를 위한 고급 전문가로서, 연구자와 엔지니어의 요구를 충족하는 다양한 기능과 옵션을 제공합니다. 가장 작은 웨이퍼 (wafer) 에서 큰 장치 (large device) 에 이르기까지 다양한 기판에서 임계 치수의 정확하고 반복 가능한 측정을 제공하도록 특별히 설계되었습니다. Prober의 견고한 디자인에는 고유 한 XYZ Gantry 플랫폼이 포함되어 있으며, 총 무게는 30kg입니다. 이 장비에는 2.5 마이크로미터 이상의 픽셀 크기가있는 2 개의 고성능 카메라를 갖춘 고급 비전 시스템 (Advanced Vision System) 이 장착되어 있습니다. 시각 장치에는 이미지 캡처, 마커, 레이저 삼각 측량, 자동 측정 및 3D 좌표 매핑과 같은 고급 기능이 포함됩니다. 또한 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 통해 사용자가 쉽게 매개변수를 설정하고 진행 상황을 모니터링할 수 있습니다. 프로버는 실리콘 웨이퍼의 정확하고 반복 가능한 측정을 위해 5 축 위치 검출을 포함한 고급 멀티 축 검출 기술을 사용합니다. 또한 다양한 제조 환경에서 사용할 수 있는 다양한 프로브 (Probing) 기능을 갖추고 있습니다. 프로브 머신에는 1 차 및 2 차 레이어에 대한 Probe가 포함되어 있으며 수동 및 자동 Probing을 모두 지원합니다. TSK UF 3000에는 통합 벡터 및 듀얼 축 안테나 부스터가 장착되어 있어 다양한 무선 주파수 구성 요소 (예: 안테나, 필터, 실드) 의 성능을 최적화할 수 있습니다. 언더 필 (underfill) 및 솔더 브리징 (solder bridging) 뿐만 아니라 다양한 IC 테스트 구조의 성능을 측정하도록 설계되었습니다. 이 프로버는 또한 장치의 인덕턴스, 커패시턴스 및 저항을 측정하기위한 강력한 LCR 미터를 포함합니다. 이 툴은 CSV, XML, 텍스트 파일 지원, 광범위한 데이터 분석 애플리케이션과의 통합 (옵션) 등 다양한 데이터 출력 옵션을 제공합니다. 즉, 병렬 및 직렬 통신 프로토콜을 지원하므로 다양한 네트워크 기반 플랫폼과 호환됩니다. 또한 내장형 이더넷 및 광섬유 포트를 통해 사용자 데이터를 안전하게 저장, 검색할 수 있습니다. 요약하자면, ACCRETECH UF3000 은 다재다능하고 강력한 전문가로서, 광범위한 디바이스를 정확하고 반복적으로 측정할 수 있습니다. 고급 기능으로 인해 다양한 반도체 생산 및 리서치 테스트 (Research Testing) 애플리케이션에 적합합니다.