판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9298592
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ACCRETECH/TSK UF 3000은 음향 웨이퍼 프로브를 위해 설계된 고정밀 원자력 현미경 (AFM) 프로버입니다. 프로버는 쿼츠 튜닝 포크 (Quartz tuning-fork) 기술을 사용하며 최대 1 나노 미터의 해상도로 표면 지형을 측정 할 수있는 스캐닝 터널링 현미경 (STM) 을 갖추고 있습니다. 재현 가능한 측정을위한 온도, 습도 및 작동 압력을 제어합니다. Prober는 RMU, CD, 웨이퍼 라이닝, 백 그라인딩 및 다이빙/톱을 포함한 여러 측정 모드를 지원합니다. TSK UF 3000은 높은 정확성과 정밀도 (최대 0.01 nm) 를 제공 할 수있는 안정적이고 안정적인 압전 Cantilever Actuator로 설계되었습니다. 작동은 0.01 nm 단위의 Z 축 이동을 허용하는 압전 Cantilever Actuator를 통해 달성됩니다. ACCRETECH UF3000은 또한 Japan Primary Standard를 추적할 수 있는 고해상도 측정 기능을 제공합니다. 웨이퍼 클램핑 (wafer clamping) 을위한 정전기 척 (electrostatic chuck) 과 샘플 위치를 최적화하기 위해 조정 가능한 샘플 스테이지가 특징입니다. 또한 웨이퍼에서 가능한 모든 프로브 포인트를 감지하도록 설계된 고급 3 차원 스캐닝 헤드 (scanning head) 가 장착되어 있습니다. Prober는 Probe 외에도 샘플 조작, 연마, 청소 및 etching과 같은 Post-Probing 프로세스를 지원합니다. 사용자 친화적 인 운영 시스템을 통해 다양한 프로세스를 자동으로, 수작업으로 제어할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 짧은 시간에 결함에 대한 높은 정밀 분석을 제공합니다. 프로버에서 얻은 데이터는 웨이퍼 실패 모드 분석, 횡단면 이미지의 3D 모델 재구성, 웨이퍼 생산 수익률 개선에 사용될 수 있습니다. ACCRETECH UF 3000은 음향 웨이퍼 조사 및 관련 프로세스에 대한 신뢰성이 높고 견고한 전문가입니다. 이 제품은 다양한 업계에서 사용되는 고정밀도 웨이퍼 (wafer) 를 분석하는 다용도 솔루션을 제공합니다. 측정 및 분석에 소요되는 시간을 줄이고, 정확성과 정확도를 높입니다. 또한 사용자 친화적 인 운영 체제와 우수한 사후 조사 기능도 제공합니다. 정확성, 정확성 및 다재다능성으로 인해 UF3000은 고정밀 웨이퍼 프로브에 완벽한 선택이되었습니다.
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