판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9293772

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ACCRETECH / TSK UF 3000
판매
제조사
ACCRETECH / TSK
모델
UF 3000
ID: 9293772
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2006
Wafer prober, 12" Chuck type: Nickel Hard Disk Drive (HDD) Floppy Disk Drive (FDD), 3.5" Magneto-Optical drive (MO Drive) Head stage Single loader Loader type: FOUP and Open cassette Dual robotic wafer transport arms Pre-alignment stage unit Auto needle alignment Alignment camera Dual (X and Y) HEIDENHAIN scales Color LCD control panel with touch panel switches Alarm lamp pole Options: Hot chuck: +30°C to +150°C Needle cleaning: Wafer type, polish plate Multi-site parallel probing Fail mark inspection Probe mark inspection GPIB Interface Ethernet interface Automatic Card Changer (ACC) Image processing board Bump height settings Group index Multi-pass probe Printer Network option: Veganet CE Marked 2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000은 최신 반도체 제조 공정에 사용하도록 설계된 고급 자동 전문가입니다. 테스트, 조사, 다이 정렬 (die sorting) 과 같은 다양한 Probing 작업을 빠르고 정확하게 수행 할 수 있습니다. TSK UF 3000은 모듈식 PPD (Prober Platform Design) 를 통해 새로운 기술을 빠르고 효율적으로 구현할 수 있습니다. 이 모델은 처리량을 최소화하고 빠른 프로브 사이클 (Probing Cycle) 을 달성하기 위해 단일 사분면 정렬 헤드 프로버 (Prober) 에서 여러 웨이퍼 또는 칩을 지원합니다. PPD에는 웨이퍼 손실 감지 장비, 고유 진공 척, 다양한 유형의 로봇 암, 모터 드라이버, 빠른 변경 프로브 카드, 특수 힘 교정, 비전 시스템 등 수많은 주변 장치 및 옵션이 장착되어 있습니다. ACCRETECH UF3000은 데이터 작업, 성능 분석 및 기타 처리 정보에도 액세스할 수 있습니다. UF 3000 Prober는 운영 효율성을 최적화하고 비용을 최소화하며, 처리량과 수율을 극대화할 수 있도록 설계되었습니다. 다양한 웨이퍼 (wafer) 크기를 샘플링할 수 있으며, 최소 설치 공간은 비용 정렬 공간 (alignment space) 을 줄일 수 있습니다. Prober의 범용 4 사분면 정렬 설계는 2, 3 또는 4 가지 유형의 테스트 헤드에 대한 검사 작업을 용이하게합니다. 동력 Z축의 조합 (웨이퍼 표면에 수직인 동작 축); X 및 Y의 미세 피치 머신 나사; 그리고 높은 전력 제어 모듈은 고정밀 프로브를 가능하게합니다. ACCRETECH UF 3000 은 고유한 연동 시스템으로, 각 작업 전후에 검증, 유지 보수, 보정을 위한 테스트 헤드를 완벽하게 파악할 수 있습니다. UF3000 은 강력한 연락처 (Contact-Controlled) 및 연락처당 조절 가능한 힘을 갖춘 Non-Contact Force 제어 장치를 갖추고 있습니다. 이를 통해 작동 중에 안전한 연결 및 프로브의 정확한 성능이 보장됩니다. 이 기계는 또한 사용자가 각 응용 프로그램에 대해 최적의 감지 (optimal sensing) 매개변수를 구성할 수 있도록 구성 가능한 프로브 세트를 제공합니다. ACCRETECH/TSK UF3000 Prober에는 테스트 칩의 정확한 정렬을 보장하는 고급 고속 V 그루브 정렬 머신도 포함되어 있습니다. v-groove 설계는 각 테스트 칩을 완벽하게 정렬하기 위해 다양한 Probe 위치를 제공합니다. 또한 TSK UF3000 은 수동 (manual), 자동 (automatic) 또는 반자동 (semi-automatic) 작업을 수행할 수 있으므로 애플리케이션에 가장 적합한 작업을 선택할 수 있습니다. 전반적으로 ACCRETECH/TSK UF 3000은 매우 효율적이고 정확한 전문가이며, 다양한 Probing 작업을 빠르고 정확하게 수행 할 수 있습니다. 비용을 최소화하면서 처리량 및 생산량을 극대화할 수 있도록 설계되었습니다. 고급 기능 (Advanced Features) 과 구성 가능한 Probe를 사용하면 특정 요구 사항에 따라 Prober의 성능을 최적화할 수 있습니다.
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