판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9266776

ACCRETECH/TSK UF 3000은 장치 엔지니어링 및 생산에서 반도체 샘플 웨이퍼의 속성을 테스트하기 위해 설계된 웨이퍼 프로버입니다. 웨이퍼의 전기, 광학 및 기계적 특성을 테스트하는 데 사용됩니다. 프로버 (Prober) 는 웨이퍼, 프로브 및 웨이퍼 분석을 자동으로 로드하고 언로드할 수 있는 자체 포함 장치입니다. TSK UF 3000에는 정확도가 높은 100mm x 100mm 웨이퍼 스테이지가 장착되어 있어 직경이 최대 60mm 인 샘플을 검사 할 수 있습니다. 또한 샘플 테이블을 갖추고 있으며, 최대 9 개의 웨이퍼와 8 개의 도구를 무대에 배치할 수 있습니다. ACCRETECH UF3000은 또한 장치 테스트를위한 웨이퍼 프로브 (wafer probe) 를 갖추고 있으며, 정확하고 반복 가능한 측정이 가능합니다. 또한 UF3000에는 샘플의 3D 특성화를위한 이미지 처리 장비가 장착되어 있습니다. 이 시스템은 결함, 균열 및 복사와 같은 표면 특성을 측정 할 수 있습니다. 또한 작은 기능의 고정밀 프로브를위한 정밀 스캔 장치가 있습니다. UF 3000에는 샘플 처리 및 포지셔닝을위한 다양한 모터 액추에이터가 장착되어 있습니다. 이러한 액츄에이터는 안정적이고 정확한 위치 지정 및 잔해 없는 작동을 제공하도록 설계되었습니다. 프로버 (Prober) 는 턴테이블과 함께 사용할 수도 있으며, 프로브 작업 중에 장치가 웨이퍼를 돌릴 수 있습니다. ACCRETECH/TSK UF3000에는 정확한 샘플 픽업을 위해 온보드 진공기가 장착되어 있습니다. 이 도구는 샘플을 제어 (controlled) 방식으로 픽업하고 배치할 수 있도록 설계되었으며, 이 샘플은 웨이퍼 (wafer) 스테이지에 단단히 클램프됩니다. 진공 자산은 또한 잔해 오염을 줄이고 프로세스 뉴 라인을 유지하도록 설계되었습니다. 마지막으로, TSK UF3000 에는 모델의 원격 제어를 위한 통합 통신이 장착되어 있습니다. 이를 통해 테스터는 연결된 모든 장치에서 원격으로 장치를 제어 할 수 있습니다. 또한 다양한 안전 연결 (Safety Interlock) 을 장착하여 장치의 안전한 작동을 보장합니다. 또한 ACCRETECH UF 3000 은 다양한 애플리케이션과 요구 사항을 충족하는 다양한 맞춤형 구성 옵션을 제공합니다.