판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9254752

ACCRETECH/TSK UF 3000은 반도체 산업을위한 다기능 증명서입니다. 집적 회로에 대한 테스트 및 검사 기능을 제공하도록 설계되었습니다. TSK UF 3000 은 범용 테스트 플랫폼과 다양한 Prober 를 결합하여 광범위한 고급 디바이스를 정확하게 측정, 분석, 디버깅합니다. 프로버는 프로브 카드 (Probe Card) 와 웨이퍼 스테이지 (Wafer Stage) 로 구성되며 최대 10 인치 크기의 웨이퍼를 처리 할 수 있습니다. 웨이퍼 스테이지에는 테스트 중에 Probe 카드를 정확하게 정렬하기 위한 고해상도 CCD 카메라와 무접촉 웨이퍼 (Contactless Wafer) 어댑터가 있습니다. 이 시스템은 여러 가지 테스트 절차 및 구성 (다양한 테스트 패턴 포함) 을 지원합니다. 프로버 (Prober) 는 차등 시력 향상 시스템을 사용하여 테스트 중인 프로브 (Probe) 카드와 장치 사이에 정확한 접촉을 허용합니다. 이 시스템은 테스트 시간을 줄이고 장애 위치 효과를 향상시키는 데 도움이 됩니다. Prober는 또한 여러 샘플 홀더, 카드 스위퍼 및 다양한 테스트 장비를 갖춘 구성 가능한 테스트 스테이션 (Configurable Test Station) 을 갖추고 있으며보다 효율적입니다. 데이터 획득 및 분석 기능을 향상시키기 위해 ACCRETECH UF3000 은 처리량 및 반복성이 높은 확장 모드 (extended-mode) 작업을 제공합니다. 따라서 데이터 입수 시간이 단축되고 Probe 카드 오열의 정확성이 향상됩니다. 프로버는 또한 다양한 아날로그 및 디지털 신호를 지원하며 표준 (Standard) 및 고급 (Advanced) 테스트 옵션을 모두 제공합니다. 프로버는 시트 저항, 시트 두께, 판금 및 절연 레이어 두께, 필름 스트레스 (film stress) 및 프로브 볼 접촉 영역 (probe ball contact area) 을 포함하여 다양한 전기 및 물리적 특성을 정확하게 측정하고 평가할 수 있습니다. 또한 ACCRETECH UF 3000 은 자체 보정을 위한 내장 기능과 테스트 데이터를 손쉽게 검토하고 분석할 수 있는 사용자 친화적인 Analyzer/Controller 인터페이스를 갖추고 있습니다. ACCRETECH/TSK UF3000 은 업계에서 안정적이고 효율적인 테스트 솔루션을 제공하도록 설계된 강력한 Prober입니다. 고급 기능 (예: 구성 가능한 테스트 스테이션, CCD 카메라, 차등 비전 향상, 다양한 테스트 절차) 을 통해 사용자는 테스트 기능을 최대화할 수 있습니다. UF3000 은 고속, 신뢰성, 정확한 테스트, 조사 작업이 필요한 기업/연구 기관을 위한 탁월한 선택입니다.