판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9249168

ACCRETECH/TSK UF 3000 prober는 고급 생산 및 프로토 타입 테스트 프로세스에 사용되는 자동 IC 테스트 기계입니다. 내성, 전류, 전압, 정전량 등 전기적 특성과 다이 사이즈, 패드 피치, 다이 스텝 등의 물리적 특성을 테스트할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 다이 구조에 대한 현장 검사를 허용하는 대형 광학 탐지 창과 함께 고급 자동화 시스템 (Advanced Automation System) 을 사용하여 테스트 과정에서 정밀성과 반복 성을 모두 허용합니다. 매우 민감한 광 센서는 테스트 중 가장 작은 불완전성 (imperfection) 이나 불일치 (inconsistency) 도 감지할 수 있으므로 프로덕션 배치 (production batch) 에 사용할 수 있습니다. 또한 TSK UF 3000 은 컴퓨터로 인코딩할 수 있는 다양한 고급 테스트 모드 (advanced testing mode) 를 갖추고 있어 처리량이 높고 테스트가 효율적입니다. 이러한 모드에는 Constant Voltage Tests, Pulse Mode Tests, PWM (Pulse-width-Modulation) Control 및 STM (Surface Topography Measurement) 이 포함됩니다. 따라서 단일 테스트 시퀀스 내에서 IC 및 상호 연결의 정확성을 확인할 수 있습니다. 높은 처리 속도에서도, 프로버는 인접한 노드 사이의 짧은 회로와 반바지를 정확하게 식별 할 수 있습니다. ACCRETECH UF3000 에는 테스트 프로세스를 추적하는 데 도움이 되는 통합 데이터 관리 시스템도 포함되어 있습니다. 이 시스템은 대량의 데이터를 저장할 수 있으며, 향후 참조를 위해 신속하게 데이터를 리콜할 수 있습니다. 또한 대부분의 표준 소프트웨어 패키지와 통합하여 프로세스 보고서 (process report) 및 설명서를 작성할 수 있습니다. UF3000 은 PC 또는 PLC 를 사용하여 테스트 매개변수를 제어하고 결과를 보고하는, 완전 자동화된 테스트 환경의 일부로 사용될 수 있습니다. TSK UF3000 은 자동화된 테스트 기능 외에도 수동 프로세스를 통해 테스트를 제어합니다. 메뉴 방식의 GUI (Graphical User Interface), 커서 제어 (Cursor Control), 측정 제어 (Measurement Control) 등 다양한 수동 제어 기능을 통해 테스트 매개변수를 실시간으로 쉽게 조정할 수 있습니다. 또한 바늘 달린 프로브 홀더, 맞춤형 렌즈 어셈블리, 조절 가능한 장착 설비, 장착 베이스 등 다양한 액세서리가 포함되어 있습니다. 이러한 액세서리를 통해 사용자는 테스트 프로세스를 더욱 정확하게 조정할 수 있으며, 이를 통해 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 전반적으로 ACCRETECH/TSK UF3000은 광범위한 기능을 갖춘 강력하고 다양한 전문가입니다. IC와 상호 연결에 대한 생산/프로토타입 (prototype) 평가를 위한 매우 실용적인 솔루션으로, 생산 비용을 절감하면서 테스트 수익률을 극대화할 수 있습니다. 직관적이고 사용하기 쉬운 인터페이스로, 모든 운영 환경에 이상적인 솔루션이 됩니다.