판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9245665

ACCRETECH/TSK UF 3000은 일반적으로 반도체 웨이퍼 테스트 및 평가에 사용되는 전문가입니다. 이 제품은 다양한 반도체 웨이퍼 (wafer) 유형에 대한 높은 처리량 측정 및 테스트를 위한 다용도 솔루션입니다. 대형 웨이퍼 (wafer) 와 소형 웨이퍼 (wafer) 를 포함하여 다양한 웨이퍼 크기를 처리 할 수 있습니다. TSK UF 3000은 혁신적인 설계를 통해 여러 웨이퍼를 병렬로 동시에 사용할 수 있습니다. 테스트할 wafer 유형에 따라 Prober의 설정을 쉽게 구성할 수 있습니다. 다양한 유형의 웨이퍼 (wafer) 크기와 두께를 수용하도록 조정할 수 있는 매개변수가 여러 개 있습니다. ACCRETECH UF3000에는 금속 필름, 질화물, 게이트 산화물, 실리콘 등 다양한 웨이퍼 재료를 테스트하는 데 사용할 수있는 다양한 기능이 있습니다. 또한 사용자가 웨이퍼의 결함을 완전히 식별 할 수있는 내장 시각 검사 시스템 (Visual Inspection System) 이 있습니다. 프로버 (Prober) 의 측정 헤드에는 정확한 웨이퍼 배치 및 이동이 가능한 6 축 동작 제어 시스템이 장착되어 있습니다. 측정 헤드는 최대 45 ° 기울어지고 회전하여 코너 정렬과 원형을 측정할 수 있습니다. 이 검사는 또한 열린 비아 및 기타 오염 물질을 감지하기위한 웨이퍼 검사 메커니즘을 특징으로합니다. 또한, 무선 이미지 전송 시스템 (Wireless Image Transmission System) 을 사용하면 연결된 컴퓨터에 이미지를 전송하여 측정, 플로팅 및 분석을 수행할 수 있습니다. UF 3000에는 고해상도 LCD 디스플레이와 직관적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 가 있습니다. LCD 디스플레이를 사용하여 테스트 결과 및 다양한 기능 (예: 데이터 플로팅, 웨이퍼 서피스 검사) 을 표시할 수 있습니다. 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 사용하면 필요한 기능과 옵션에 쉽게 액세스할 수 있으므로 작업을 쉽고 편리하게 수행할 수 있습니다. ACCRETECH UF 3000은 신뢰할 수 있고 정확한 증명으로, 웨이퍼 정렬, 프로세스 개발, 제품 개발, 품질 관리 등 다양한 응용 프로그램에서 사용할 수 있습니다. 이 제품은 고성능 제품군으로, 웨이퍼 (wafer) 수율 비용을 절감할 수 있기 때문에 생산라인에 이상적인 선택입니다.