판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9243093

ACCRETECH/TSK UF 3000은 고급 프런트엔드 및 백엔드 반도체 테스트를 위해 설계된 전기 용량 기반 전문가입니다. TSK UF 3000 이 사용하는 전기 커패시턴스 (electrical-capacitance) 기반 프로빙 기술을 통해 다양한 반도체 장치에서 다양한 패라메트릭, DC/AC 및 기능 매개변수를 빠르고 정확하게 측정할 수 있습니다. ACCRETECH UF3000의 프로브 헤드는 150mm x 100mm이며 2D 및 3D 구성에서 최대 12 개의 핀을 검사 할 수 있습니다. 또한 각 핀을 정확하게 테스트할 수있는 고급 코핑, 슬라이싱, 커프 슬라이싱 기능을 제공합니다. ACCRETECH UF 3000 Prober의 모듈식 설계를 통해 테스트 중인 장치의 핀을 보다 정확하게 정렬 할 수 있습니다. ACCRETECH/TSK UF3000 은 대규모 고밀도 및 복잡한 장치를 효율적으로 테스트할 수 있도록 설계되었으며, 미세한 전기 정전장치 (electrical-capacitance) 장애를 감지할 수 있습니다. 또한 다양한 온도 범위에서 장치의 변형을 동적으로 감지, 수정 할 수 있습니다. 또한, 프로버는 '힘-전압 측정' 을 제공 할 수 있으며, 이를 통해 힘-측정 리본 테스트와 같은 강제-민감성 응용이 가능합니다. TSK UF3000 은 다양한 메모리 구성, 데이터 속도, 통신 속도 중에서 선택할 수 있는 기능 등 다양한 표준 구성 옵션을 제공합니다 (영문). UF 3000에는 MITS Corp의 Integrated Firing Coffee Probe Head (옵션) 가 장착되어 있어 Probe 성능을 더욱 최적화합니다. 커피 프로브 헤드는 8 개의 Teflon 컵 프로브 스탠드로 설계되어 정확한 측정 및 정렬 기능을 갖춘 12 핀 및 24 핀 장치를 사용할 수 있습니다. 또한 UF3000은 고급 제어 시스템을 제공하여 종합적인 매개변수 설정 제어, 실시간 피드백 데이터 디스플레이, 통합 회로 내 프로그래밍 기능을 제공합니다. 응용 프로그램 모듈, Advanced Probing Head, Teflon 컵 프로브 및 LabVIEW 드라이버와 같은 선택적 액세서리가 있습니다. ACCRETECH/TSK UF 3000 은 냉각 시스템 통합으로 구성할 수도 있으며, 향상된 성능과 향상된 장치 제어를 지원합니다. 전체적으로 TSK UF 3000은 고급 반도체 테스트를 위해 설계된 유연하고 다재다능한 전문가입니다. 고급 전기 정전장치 기반 감지 기능, 통합 프로그래밍 제어 및 수많은 구성 옵션, ACCRETECH UF3000 은 다양한 반도체 디바이스에 이상적인 테스트 플랫폼입니다.