판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9199741

ACCRETECH/TSK UF 3000 Prober는 최대 12 인치까지 2 인치 작은 웨이퍼를 테스트하도록 설계된 정밀 검사 및 테스트 장비입니다. 고급 (advanced) 기능 세트가 장착되어 있어 조사, 테스트, 장애 분석에 이상적입니다. 이 시스템에는 wafer-level 매개변수를 빠르고 정확하게 측정할 수 있도록 최적화된 스캐닝 장치가 있습니다. 또한 연락처, 상호 연결, 장치의 자동 특성화가 가능한 고해상도 이미징 기능을 갖추고 있습니다. TSK UF 3000에는 초점 위치의 속도 튜닝 및 조정을 보장하는 고급 정렬 도구가 제공됩니다. 또한 열 모니터링 머신 (thermal monitoring machine) 으로 온도 조사를 제어할 수 있으며, 이는 프로브 중 열 스트레스를 줄이는 데 도움이됩니다. 이 도구에는 최적 된 패턴 인식 에셋 (pattern recognition asset) 이 있어 전도점 및 기타 의심스러운 점을 정확하게 파악할 수 있습니다. 이는 로컬 결함 변동, 단락 회로, 데드 픽셀 등을 식별하는 데 도움이됩니다. 이 모델에는 또한 고급 컨트롤러 (advanced controller) 가 있는데, 이 컨트롤러는 검사 프로세스 중에 스캔 헤드에 대한 피드백을 제공하고 오류를 최소화합니다. 이동식 프로브 헤드 (Moveable Probe Head) 가 장착되어 있으며, 최대 12 인치 2 인치 샘플 사양에 대해 100äm의 정확도를 정확하게 배치 할 수 있습니다. ACCRETECH UF3000에는 유연한 다이 처리 장비가 있으며, 최대 6 개의 다이를 처리 할 수 있으며, 동시에 다중 다이를 테스트 할 수 있습니다. 또한 자동화된 다이 (die) 정렬 시스템을 갖추고 있는데, 이 시스템은 잘못된 정렬을 신속하게 감지하고 오류를 정렬하고 신속하게 거부할 수 있습니다. 또한 다양한 소프트웨어가 장착되어 있어 운영 및 데이터 아카이빙이 간편합니다 (영문). 또한 개인 데이터를 보호하는 데 도움이 되는 사용자 관리 및 보안 기능이 내장되어 있습니다. 요약하자면, UF3000 은 정밀 테스트 및 검사에 대한 가장 엄격한 요구 사항을 충족하도록 설계된 고급 Prober 입니다. 자동 정렬, 유연한 다이 처리 (flexible dies handling), 고급 컨트롤러 (advanced controller), 패턴 인식 도구 등 다양한 고급 기능을 갖춘 다용도 기계입니다. 매우 정확하고 정확하며 정확하고 안정적인 결과를 제공합니다.