판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9192809

ACCRETECH/TSK UF 3000 Prober는 복잡한 패키지 디자인으로 소형 마이크로 일렉트로닉 부품의 전기 특성을 테스트하는 데 사용되는 특수, 고정밀 제품입니다. TSK UF 3000 은 고해상도 Probe 신호 측정, 자동 정렬 기능, 다양한 제어 모드 등 다양한 기능과 기능을 제공합니다. ACCRETECH UF3000의 프로브 헤드 (Probe Head) 는 시스템의 핵심 구성 요소이며, 위치 해상도 0.5 초와 0.2 초의 정확도로 최대 정밀도와 정확도를 제공합니다. 프로브 헤드는 XYZ 좌표계 (XYZ Coordinate System) 를 사용하며, 4 개의 축 공압을 가진 매우 유연한 설계로 모든 각도와 높이에서 테스트 할 수 있습니다. 또한 모든 마이크로 일렉트로닉 장치 (microelectronic device) 에 액세스 할 수있는 광범위한 프로브 토핑 형태 및 크기를 허용합니다. ACCRETECH/TSK UF3000의 Probe 신호 측정 기능은 전압, 전류, 접촉 저항 및 커패시턴스를 포함한 테스트 옵션을 제공합니다. 신호 수준은 해상도 0.25 V의 32 비트 A/D 변환기를 사용하여 정확하게 측정됩니다. UF3000 의 실시간 데이터 처리 기능을 통해 시간 기반 테스트 매개변수를 정확하게 측정할 수 있습니다. Probe 신호 측정 기능 외에도 TSK UF3000 에는 자동 정렬 기능이 포함되어 있습니다. 이 자동 정렬은 테스트 장치의 Probe 신호에 대한 잘못된 정렬 유발 왜곡을 보상합니다. 자동 정렬은 수동 조정 (manual adjustment) 이나 시각적 확인 없이 다양한 테스트 매개변수를 충족할 수 있습니다. 또한 UF 3000 은 수동 (manual) 과 자동 (automatic) 의 두 가지 제어 모드를 통해 다양한 절차와 반복 가능한 작업을 수행할 수 있습니다. 전반적으로 ACCRETECH UF 3000 Prober는 다양한 고급 기능과 기능을 사용하여 복잡한 마이크로 일렉트로닉 구성 요소에 대한 고정밀 테스트를 제공합니다. 다양한 Probe 토핑 형태와 크기, 신호 측정 기능, 자동 정렬 기능, 선택 가능한 제어 모드 등을 갖춘 ACCRETECH/TSK UF 3000 은 복잡한 microelectronic 구성 요소를 정확하고 정확하게 테스트할 수 있는 탁월한 선택입니다.