판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9169514

ACCRETECH/TSK UF 3000은 MEMS와 같은 초미세 장치의 고장 분석을 위해 설계된 전문가입니다. TSK UF 3000 Tester는 나노미터 해상도를 사용하여 높은 정밀도로 제품을 검사, 평가 및 테스트합니다. ACCRETECH UF3000은 2축 스캐닝 프로브 (scanning probe) 시스템을 갖추고 있으며, 다양한 샘플 구성을 지원하는 직접 드라이브 (direct-drive) 기술을 통해 정확한 샘플 테스트 및 분석을 수행할 수 있습니다. ACCRETECH/TSK UF3000은 독점적 인 "단계 및 반복" 스캔 기술을 사용하여 미세한 구조를 테스트할 수 있습니다. UF 3000에는 0.5um ~ 25um 의 고해상도를 가진 스캐너 (scanner), 광범위한 샘플 치수를 지원할 수있는 샘플 스테이지, 1000x 의 고해상도를 가진 단면 현미경을 갖추고 있습니다. 또한 고품질, 고정밀도 동작 제어 구성 요소를 사용하며 고급 이미지 디스플레이 시스템을 포함합니다. 또한 TSK UF3000 은 자동 초점 기능 (auto-focus capability) 및 양면 스캐닝 (double-side scanning) 과 같은 다양한 특수 기능을 통해 보다 포괄적인 분석을 수행할 수 있습니다. UF3000은 MEMS 및 밀리미터 스케일 가젯을 포함하여 매우 복잡한 구조와 장치를 분석 할 수 있습니다. 데이터 처리는 매우 정확하고 안정적이며, 측정 오류의 가능성을 최소화합니다. ACCRETECH UF 3000은 또한 장애 분석, 추적 가능성 및 추적 가능성 분석을위한 프로그램을 포함한 데이터 분석을 지원합니다. ACCRETECH/TSK UF 3000 은 사용이 간편한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 통해 Probe 를 손쉽게 사용자 정의하고 제어할 수 있습니다. 자동 결함 식별과 같은 추가 기능을 위해 소프트웨어를 업그레이드할 수 있습니다. 또한 TSK UF 3000 은 원격 액세스 및 제어 기능을 제공하며, 인터넷을 통한 소프트웨어 업데이트를 지원합니다. 이 프로버는 경질 (hard materials) 에서 공급 가능한 직물 (pliable fabric) 에 이르기까지 다양한 표면의 재료를 검사 할 수 있습니다. 또한, 다양한 하드웨어/소프트웨어 옵션을 통해 다양한 애플리케이션에 적용할 수 있습니다 (영문). ACCRETECH UF3000 (ACCRETECH UF3000) 은 안정적이고 효율적인 Prober로, 다양한 예제 구성을 빠르고 정확하게 검토할 수 있습니다. 탁월한 해상도, 고급 이미지 디스플레이 기능, 유연한 하드웨어/소프트웨어 오퍼링을 결합한 ACCRETECH/TSK UF3000 은 고장률 (Failure Rate) 분석 및 제품 테스트를 위한 강력한 툴입니다.