판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621711

ACCRETECH/TSK UF 3000은 프로토 타입 장치에서 전기 테스트를 수행하는 데 사용되는 Semiconductor Prober입니다. 중소 규모의 연구 개발 실험실에서 사용하도록 설계되었습니다. 프로버 (Prober) 는 다양한 유형의 장치 테스트에 대해 상호 교환 가능한 구성 요소를 갖춘 유연한 모듈식 설계를 가지고 있습니다. 프로버는 최대 8 개의 Probe 카드를 수용 할 수있는 플랫폼이있는 모듈 식 기본 장치로 구성됩니다. 웨이퍼 정렬, 테스트 표본 클램핑 및 냉각을위한 통합 챔버가 있습니다. 넓은 온도 범위 (-20 ~ 200 ° C) 에 걸쳐 전기 특성을 측정 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 IC 및 MEM과 같은 다양한 테스트 구조를 준수하는 프로브도 있으며, 맞춤형 테스트 구성이 가능합니다. 프로버는 또한 자동 레벨 제어, 프로브 힘의 자동 조정, 테스트 속도의 자동 타겟팅 등 다양한 제어 기능을 제공합니다. 또한 아날로그 전압, 전류, 디지털 전압, 디지털 신호 등 다양한 데이터 획득 채널을 제공합니다. 또한, Prober는 테스트 결과를 기록하고 재생할 수 있는 기능을 제공하며, 이를 통해 사용자는 테스트 결과를 세밀하게 조정할 수 있습니다. TSK UF 3000에는 간편한 장치 설정을 위한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 가 장착되어 있습니다. GUI를 사용하면 테스트 시퀀스 프로그래밍, 표본 매개변수 편집, 데이터 수집/표시 등의 작업을 수행할 수 있습니다. 또한 Prober는 추가 프로그래밍 유연성을 위해 LabVIEW 및 ASCOT를 지원합니다. ACCRETECH UF3000의 다른 기능으로는 테스트 설정을위한 온보드 라이브러리, 자동 배경 수정 및 보상, 밸브 검사 정확도 향상, 동적 임피던스 제어, 고급 테스트 패턴 기능 등이 있습니다. 이 Prober는 또한 이더넷 연결을 통한 원격 모니터링 및 제어, 네트워크 데이터 관리 시스템 (Network Data Management System) 으로의 자동 결과 전송을 허용합니다. 전반적으로 UF 3000 은 광범위한 테스트 기능을 제공하며, 이를 통해 사용자는 디바이스 성능 데이터를 효율적이고 정확하게 수집하고 분석할 수 있습니다. 모듈식 설계와 다양한 유형의 프로브 (Probe) 를 통해 특정 장치 테스트 요구 사항을 충족하도록 쉽게 프로버를 구성할 수 있습니다. 또한 고급 기능 (advanced feature-set) 은 디바이스의 성능을 시간이 지남에 따라 안정적으로 유지할 수 있게 해 주며, 이를 통해 사용자가 직접 테스트를 수행할 수 있습니다.