판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 300 #9221039

ACCRETECH/TSK UF 300은 반도체 웨이퍼 생산 및 테스트를 위해 설계된 전문가입니다. wafer sample testing, failure analysis, datalogging 등 다양한 기능을 수행할 수 있습니다. TSK UF 300은 10 나노 미터의 정확도를 가지며 최대 8 개의 웨이퍼를 동시에 지원할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 모듈식 설계를 통해 쉽게 업그레이드할 수 있으며, 특정 애플리케이션에 맞게 프로버를 쉽게 사용자 정의할 수 있습니다. 또한 검색 후 2 초의 속도로 빠른 처리 시간을 위해 설계되었습니다. ACCRETECH UF300 샘플 테스트 시스템은 저항, 커패시턴스, 인덕턴스, 전압 등 정확한 전기 매개변수 측정을 수행 할 수 있습니다. 전기 결함 또는 이상을 감지 할 수있는 자체 테스트 진단 기능이 내장되어 있습니다. 또한 자동 웨이퍼 정렬, 웨이퍼 검사, 데이터 로깅, Go/No-Go 테스트 결과, 시각적 검사 등 광범위한 자동 작업을 제공합니다. 프로버 (Prober) 의 고장 분석 시스템 (Failure Analysis System) 은 웨이퍼에 있을 수 있는 장애에 대한 자세한 분석을 제공할 수 있습니다. 결함에 대한 자세한 이미지는 자동 CCD (Automated CCD) 카메라를 사용하여 생성되며, 이를 통해 추가 분석을 수행할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 다양한 결함 유형을 감지하고 특성화하기위한 내장 알고리즘과 함께 자동 결함 분석 기능도 갖추고 있습니다. UF 300 은 수많은 데이터 로그 (datalogging) 및 분석 (analysis) 기능을 갖추고 있어 웨이퍼에서 대용량 데이터를 캡처하고 분석할 수 있습니다. 이 데이터는 추가 분석을 위해 저장되거나 트렌드 (trend) 나 패턴을 감지하는 데 사용될 수 있습니다. 또한 특정 데이터 로그 작업을 자동화할 수 있는 기본 제공 스크립팅 툴이 있습니다. ACCRETECH UF 300 (ACCRETECH UF 300) 은 신뢰할 수 있고 다양한 애플리케이션에서 사용하기에 적합한 전문가입니다. 모듈식 (modular) 설계와 다양한 기능을 통해 다양한 운영/테스트 환경에서 손쉽게 맞춤형으로 구성할 수 있습니다. 각종 전기적 매개변수를 정확하게 측정하고, 자동화된 웨이퍼 (Wafer) 조사 및 분석을 수행하며, 많은 양의 데이터를 처리하므로 반도체 업계에서 이상적인 툴이 됩니다.