판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 300 #9203111

ACCRETECH/TSK UF 300은 Prober 기술의 중요한 발전입니다. 이 Prober는 다양한 반도체 프로세스에 대한 다양한 Probing 솔루션을 제공하도록 설계되었습니다. 전압, 전류, 커패시턴스, 열 측정, 광학 측정, 고해상도 이미징, 이미지 지원 검사 등의 매개변수를 수행할 수 있습니다. TSK UF 300에는 고해상도 카메라와 고급 소프트웨어가 장착되어 있어 해상도 (최대 1.5 m) 의 이미지를 캡처할 수 있습니다. 이렇게 하면 표면 결함을 식별하고 검사할 수 있으며, 자세한 실패 분석 시 도움이 됩니다. 또한 범용 XY 포지셔닝 단계를 통해 서브 미크론 증분으로 샘플을 이동하고 단계 오류 없이 샘플을 최대 10 ° 까지 회전시킬 수 있습니다. 이를 통해 샘플의 다른 지점을 이미징하여 적절한 적용 범위를 확보할 수 있습니다. 또한 대부분의 외부 테스트 장치와 호환되는 이더넷, VGA, USB 등 다양한 인터페이스가 있습니다. ACCRETECH UF300에는 수상 경력에 빛나는 TSK TomoS가 장착되어 레이어 별 3D 검사를 제공합니다. 이중 광 입력으로 스택 레벨, 필름 레벨, 다중 레이어, 고출력 장치 등 내부/외부 결함을 감지할 수 있습니다. 즉, 고급 프로세스 제어를 통해 정확하고 안정적인 데이터 및 측정 결과를 얻을 수 있습니다. 또한 고급 제어 시스템 (Advanced Control System) 은 외부 주변 장치에 연결하여 광범위한 자동화를 허용합니다. UF300은 전반적인 비용을 절감하고 생산성을 극대화할 수 있도록 설계되었습니다. HVPS 구성 요소는 전압, 전류, 자체 테스트, 단거리 전원과 같은 한계를 식별할 수 있습니다. 또한 다양한 레이아웃 (layout) 구성 및 밀도로 초고속 (ultra-speed) 프로브를 수행할 수 있는 유연한 프로브도 있습니다. 무료 ACCRETECH 측정 (ACCRETECH Measurement) 소프트웨어를 사용하여 디바이스 식별 및 장애를 분석하고 다양한 디버깅 보고서를 생성할 수 있습니다. ACCRETECH UF 300 (ACCRETECH UF 300) 은 단일 플랫폼에서 여러 기능을 제공할 수 있는 통합 전문가로서, 정확한 결과와 안정적인 품질 제어를 보장합니다. 반도체 분석, 프로세스 제어, 검사, 장애 분석, 제조 프로세스 등 다양한 애플리케이션에 적합합니다.