판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 300 #293829573

ACCRETECH/TSK UF 300은 웨이퍼 테스트 및 실패 분석에 사용되는 고급 전문가입니다. 이 장치는 최대 300mm 웨이퍼를 수용 할 수 있으며, 닫힌 루프 OCR 스캔 및 변위 측정이 특징입니다. 이 Prober에는 통합 OCR, 3D 자동 정렬 및 자동 인덱싱 기능도 포함됩니다. OCR (End-of-Wafer) 테스트 위치를 쉽게 식별할 수 있으며 3D 자동 정렬 (Auto Align) 기능은 장치와 웨이퍼를 매우 정확하게 정렬합니다. [자동 인덱싱] 기능을 사용하면 Prober 설정 및 정렬에 소요되는 시간을 줄일 수 있습니다. TSK UF 300 prober는 0.3 m 미만의 정확도를 달성 할 수있는 고정밀 Probe 카드 포지셔닝을 위해 설계되었습니다. 이 장치에는 듀얼 스테이지 포지셔닝 테이블을 갖춘 고강도 로봇 암이 장착되어 있습니다. 다양한 크기의 프로브 카드를 수용하여 매우 정밀한 제품을 생산할 수 있습니다 (영문). 또한 양면 프로브 및 다중 가이드 프로브도 가능합니다. ACCRETECH UF300 Prober에는 최고의 성능을 보장하는 고급 진단 기능도 있습니다. 내부 웨이퍼 테스트 기능을 통해 엔지니어가 프로버 매핑 테스트를 수행 할 수 있습니다. 또한, 고급 신호 측정 및 분석 기능을 통해 엔지니어는 미묘한 결함을 쉽게 감지하고 격리 할 수 있습니다. 또한, 직관적인 사용자 인터페이스와 잘 통합된 하드웨어/소프트웨어로 운영 및 유지 보수가 용이합니다. 결론적으로 ACCRETECH/TSK UF300 Prober는 광범위한 기능과 기능을 갖춘 고급 전문가입니다. 고정밀 Probe 카드 포지셔닝을 위해 설계되었으며 다양한 진단 기능을 제공합니다. 현장 웨이퍼 테스트를 수행하고 고급 신호 측정 및 분석 기능을 제공 할 수 있습니다. 또한, 직관적인 사용자 인터페이스와 잘 통합된 하드웨어/소프트웨어를 통해 웨이퍼 (wafer) 테스트 및 장애 분석을 위한 강력하고 사용자에게 친숙한 전문가입니다.