판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9384063

ACCRETECH/TSK UF 200SA Prober는 반도체 업계의 다양한 애플리케이션을 처리하도록 설계된 일체형 고성능 프로브 스테이션입니다. 장비는 기지국, 2 축 피드백 제어 및 2 개의 정밀 마이크로 매니 펄레이터로 구성됩니다. 기지국에는 3 개의 독립적 인 제어 축이 있으며, 크고 작은 기판의 정밀 프로브를 제공합니다. 2축 피드백 제어 시스템 (X, Y 및 Z 축) 은 고급 동시 제어 기술을 사용하여 열 효과로 인한 측정 오류를 최소화하고 안정적인 고정밀 위치를 제공합니다. 이 단위는 정밀도 및 일관성을 가진 Probe, 매핑 및 Fine Pitch Probing 측정을 수행 할 수 있습니다. TSK UF200SA에는 다양한 맞춤형 옵션 (예: 프로브 팁, 액세서리, 광학 및 공압 장치) 이 포함되어 있어 광범위한 프로브 작업을 수행할 수 있습니다. 이 기계는 라인 너비 데이터 (Line Width Data) 와 같은 대규모 데이터 세트를 수집하기 위해 자동화될 수 있으며, 이를 통해 대용량 서피스 (Surface Area) 를 빠르게 스캔할 수 있습니다. Prober는 사용이 간편한 터치스크린 인터페이스를 통해 설정을 신속하게 구성하고, 이미지를 캡처하고, 데이터를 저장할 수 있습니다. ACCRETECH UF 200 SA는 측정 데이터를 이미지에 통합하여 빠른 시각적 피드백을 제공하는 통합 이미지 센서를 갖추고 있습니다. 또한 이 기능을 통해 여러 샘플을 신속하게 분석, 비교하여 효율적인 문제 해결 및 진단 작업을 수행할 수 있습니다. Prober는 또한 정확하고 신뢰할 수있는 측정이 가능한 고급 교정 기능을 제공합니다. ACCRETECH UF200SA는 소형 패키지, 컴포넌트 등 까다로운 기판 (wafer prober, dual head probing 및 high-pressure prober system 옵션 포함) 에 맞게 최적화되어 있습니다. ACCRETECH/TSK UF200SA Prober는 광범위한 반도체 어플리케이션을 위해 설계된 일체형 고성능 프로브 스테이션입니다. 이 도구는 정확하고 일관성을 갖춘 Probe, 매핑 (Mapping) 및 미세 피치 (Fine Pitch) 조사 측정을 수행할 수 있으며, 직관적인 터치 스크린 인터페이스 및 이미지 캡처 센서와 같은 맞춤형 옵션을 포함하여 정확하고 신뢰할 수 있습니다.