판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9314178

ACCRETECH/TSK UF 200SA는 스캐닝 음향 현미경을 사용하여 웨이퍼 샘플의 효율적이고 정확한 비 접촉 측정을 용이하게하는 전문가입니다. 최대 0.01 미크론의 정확도로 측정 기능을 제공하며, 초음파 이미지의 자동 비접촉 웨이퍼 (non-contact wafer) 매핑을 정확하게 수행 할 수 있습니다. Prober는 사용 및 유지 보수가 용이한 고유하고 다양한 아키텍처를 제공합니다. 사용자 친화적 인 터치 스크린 인터페이스를 통해 직관적인 작동이 가능합니다. TSK UF200SA는 또한 정확하고 프로그래밍 가능한 샘플 및 프로브 포지셔닝을 제공하여 측정에서 정확한 정확성과 반복 성을 제공합니다. 고급, 폐쇄 루프 (closed-loop), 자동 샘플 및 표본 메커니즘이 장착되어 있으며, 반복 가능한 정확도로 샘플과 프로브의 정확한 위치를 허용합니다. ACCRETECH UF 200 SA는 자동 샘플링 및 조정, 웨이퍼 매핑 및 결함 매핑, 오버레이 측정, 백사이드 음향 반사 측정 등 다양한 측정 기능을 갖추고 있습니다. 초점 (focus) 이 확장되어 전체 시야 (field of view) 에 걸쳐 균일 한 데이터 수집이 가능합니다. 프로버 (Prober) 는 또한 다른 측정에서 시간의 정확한 상관 관계를 허용하는 외부 동기 펄스 (synchronous pulse) 출력을 가지고 있습니다. ACCRETECH UF 200SA에는 신호 안정성을 제공하는 임베디드 컨트롤러 및 신호 컨디셔닝 시스템이 있습니다. 제어 신호는 온보드 (on-board) 로 생성되며 800MHz ~ 8GHz 주파수의 신호 특성과 일치하여 신호 안정성과 반복성이 뛰어납니다. 고급 기능 세트 (advanced feature set) 는 신호 컨디셔닝을 정확하게 제어하여 높은 처리량을 측정할 수 있는 기능을 제공합니다. TSK UF 200SA에는 데이터 수집, 분석, 디스플레이에 필요한 프로세서와 소프트웨어를 지원하는 내장형 컴퓨터가 내장되어 있습니다. 프로버 (Prober) 에 내장된 운영 체제는 쉬운 프로그래밍, 대용량 메모리 용량 등 다양한 기능을 제공합니다. 또한, 이미지 프로세싱에서 실시간 제어에 이르기까지 다양한 표준 소프트웨어 애플리케이션을 지원합니다. 또한 TSK UF 200 SA 는 강력하고 안정적인 하드웨어 플랫폼을 갖추고 있으며, 데이터 수집 및 분석을 위한 탁월한 운영 환경을 제공합니다. 고속 데이터 획득 및 신호 컨디셔닝 시스템의 실시간 제어 기능을 제공합니다. 원격 제어를 위한 이더넷 인터페이스, 결과 표시를 위한 VGA 출력 포트, 데이터 스토리지를 위한 USB 포트 등이 있습니다. 전반적으로 ACCRETECH/TSK UF200SA는 웨이퍼 샘플의 비접촉 측정에 대한 훌륭한 증명입니다. 사용이 간편한 인터페이스, 고급 신호 컨디셔닝 (signal conditioning), 임베디드 컨트롤러 (Embedded Controller) 를 통해 연구, 반도체 및 전자 제품 테스트에서 정확하게 측정할 수 있는 안정적이고 다양한 툴입니다.