판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9314157

ACCRETECH/TSK UF 200SA는 150 나노 미터의 작은 반도체 재료 및 장치에 대한 정확하고 정확한 비 접촉 측정을 수행하도록 설계된 도량형 전문가입니다. 이 프로버 (Prober) 는 높이와 평면 스캐닝 모두에서 높은 속도와 뛰어난 정확도의 독특한 조합을 결합합니다. TSK UF200SA는 반도체 생산량 개선 및 신뢰성 모니터링의 중요한 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다. 프로버 (Prober) 는 다양한 기판 및 장치와 함께 사용할 수있는 유연한 디자인을 가지고 있습니다. ACCRETECH UF 200 SA는 산업용 무유 공기 베어링 시스템을 갖추고 있으며, 이 시스템은 200,000 회/초 안팎으로 프로브 팁을 빠르고 정확하게 배치합니다. 프로브의 입/출력 이동은 총 이동 범위가 0.2mm 인 20 나노 미터 단위로 제어 할 수 있습니다. 이를 통해 Prober는 접촉이 필요 없이 기판 및 장치의 3D 모양과 표면을 정확하게 측정 할 수 있습니다. UF 200SA 프로버에는 CCD 카메라가 장착되어 있으며, 이 카메라는 기판에서 랜드 마크를 찾고 프로브 팁을 정확하게 배치하는 데 사용됩니다. "카메라 '의 해상도 는 3.2" 미터 '/" 픽셀' 로서 기판 의 표면 에서 매우 작은 세부점 들 을 인식 하고 측정 할 수 있다. IFI (Interference Imaging Technology) 는 기판의 3D 모양을 측정하고 분석하는 데 사용되므로 표면 거칠기를 정확하게 확인할 수 있습니다. UF200SA에는 다양한 소프트웨어 기능이 장착되어 있으며, 복연도, 프로파일링, 진동 분석, 정렬, 기울기, 왜곡 등 다양한 반도체 관련 특성을 정확하게 측정 할 수 있습니다. 프로버는 또한 정확한 측정을 보장하기 위해 자동 교정 및 정렬 기능을 제공합니다. 다른 기능으로는 실시간 데이터 수집, 실시간 디스플레이 및 데이터 분석 기능이 있습니다. TSK UF 200 SA 는 반도체 재료와 장치의 물리적 특성을 측정하기 위한 고속, 정확성, 신뢰성 있는 솔루션을 제공합니다. 이 제품은 강력하고 다양한 소프트웨어 애플리케이션 (Software Application) 을 통해 지원되므로 기판 및 장치를 신속하게 측정, 분석할 수 있습니다. ACCRETECH UF 200SA 프로버는 반도체 생산, 자동차, 광섬유 산업 등을 포함한 많은 산업에서 사용됩니다.