판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9283907
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ID: 9283907
빈티지: 2006
Prober
Platform: J750 / J750 EX
OCR Type: Type 4
Chuck
Temperature: 30°C - 150°C
Tray module: Tray
Clean unit, 2"
Docking type: J750
Docking kit: TERADYNE K Dock
PMI Function: PMI I
2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200SA는 고성능, 비용 효율적인 3D 비접촉 표면 및 광학 프로버입니다. 광범위한 반도체, MEMS, 광전자 검사, 도량형 응용에 이상적인 도구입니다. TSK UF200SA는 초평면 및 고면도 기능에 대한 전체 인라인 3D 비접촉 측정을 위해 설계되었습니다. ACCRETECH UF 200 SA에는 뛰어난 해상도와 정확도를 제공하는 통합 고급 광학 및 조명 디자인이 있습니다. 근적외선 광학은 최소 반점 크기 2.5 m, 반복 가능성 0.5 m 이상의 기능을 측정 할 수 있습니다. 또한 혁신적인 3D 스캐닝 레이저 자동 초점 (autofocusing) 을 사용하여 높은 화면 비율과 높은 반복성으로 큰 단계 높이를 측정 할 수 있습니다. ACCRETECH/TSK UF200SA에는 고속 데이터 획득 및 처리 컨트롤러가 장착되어 있습니다. 즉, 고해상도를 유지하면서 기존 프로파일러보다 최대 70 배나 빠른 데이터 포인트를 캡처할 수 있습니다. 내장 프로파일 및 라인 분석 기능을 사용하여 정보를 추가로 처리할 수 있습니다. 이러한 기능의 조합을 통해 UF 200 SA 는 광범위한 애플리케이션에서 매우 엄격한 공차를 가진 시스템을 추적할 수 있습니다. UF200SA 는 사용하기 쉽고, 프로그래밍이 용이하며, 업계 표준 컴퓨터와 운영 체제와 호환됩니다. 간편한 GUI (Graphical User Interface) 를 통해 자동화된 측정/분석 프로그램을 빠르고 효율적으로 개발할 수 있습니다. ACCRETECH UF200SA는 모든 광 프로파일러 요구에 적합한 도구입니다. 고급 옵틱 (optic), 조명 (illumination), 빠른 데이터 획득 및 분석 기능을 통해 데이터를 빠르고 쉽게 캡처, 측정, 분석할 수 있습니다. 내장형 프로파일 (profile) 및 라인 분석 기능을 통해 정확한 비접촉 표면 및 광전자 검사 및 도량형 어플리케이션을위한 완벽한 툴이 될 수 있습니다.
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