판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9283881

ACCRETECH/TSK UF 200SA는 최대 200mm/sec의 속도로 작동하여 웨이퍼 및 채권을 정확하고 안정적으로 테스트하고 측정하도록 설계된 최고급 반도체 프로버입니다. 첨단 고해상도 통합형 Prober 및 Tester 솔루션을 통해 고성능 Probing 및 테스트를 위한 향상된 샘플링 속도, 정확도, 성능을 제공합니다. TSK UF200SA 장비는 메인프레임, 전기 장치 및 현미경 시스템으로 구성됩니다. 메인프레임은 고속 27 비트 DC 모터가 장착 된 동적 정밀 제어 X-Y-Z 코어 장치로, 고속 프로브를 위해 최대 200mm/s의 동적 이동을 지원합니다. 또한 기계에는 자동 Z축 충돌 탐지 (Z축 crash detection) 기능이 장착되어 있으며, 전기 단기가 발생할 때 프로브 작업을 감지하고 멈출 수 있습니다. Z축에는 지속적인 피드백 (feedback) 이 있어 테스트중인 장치에 대한 물리적 손상을 방지하기 위해 정확한 제어 및 정확성을 제공합니다. 전기 장치는 ACCRETECH UF 200 SA의 핵심 구성 요소로, 안정적이고 안정적인 작동을 제공합니다. 증폭기 장치, 전력 한계 회로 및 메사 (mesa) 형 경비원과 연결되어 안정적인 작동을 보장합니다. 다양한 주파수 범위 및 전원 수준에서 조정 가능한 진폭, 바이어스 전압, 전류 조건을 제공합니다. 이 장치는 또한 증폭기 및 매개변수의 자동 보정 (auto-calibration) 과 같은 다양한 제어 설정을 사용합니다. 현미경 도구는 TSK UF 200SA의 세 번째 주요 구성 요소입니다. 이 장치는 렌즈 자산과 이미지 해상도가 우수한 전자 광학 요소로 구성되어 있습니다. 파퍼 서피스 (wafer surfaces) 를 직접 검사하여 프로브 위치와 접촉 (contact) 의 물리적 상태를 정확하게 정렬하고 확인할 수 있습니다. 현미경에는 자동 초점 모델, 형광 중국 옵션 및 이중 뷰 분석이 있습니다. UF 200SA (UF 200SA) 는 기존 시스템에 비해 여러 가지 성능 이점을 제공하는 첨단 종합 전문가입니다. 광범위한 애플리케이션을 위한 안정적이고 다양한 솔루션을 제공합니다. 이 제품은 정밀도, 많은 수의 샘플을 처리할 수 있는 기능, 향상된 속도와 성능, 간편한 구성, 그리고 최적의 디바이스 테스트를 위한 고급 (advanced) 기능을 제공합니다.