판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9270840

ACCRETECH/TSK UF 200SA는 고급 반도체 테스트를 위해 설계된 마이크로 프로빙 시스템입니다. "마이크로프로세서 '나" 메모리' 와 같은 소형 부품 을 검사, 측정, 조사 할 수 있는 다용도 하고 신뢰 할 만한 도구 이다. Prober는 Contact Tracing 및 Yield Analysis와 같은 작업에 사용할 수 있습니다. 시스템의 주요 구성 요소는 프로버 스테이지 (prober stage) 이며, 수직 피에 조 모터 구동 스테이지, 고속 광학 테이블 및 모션 컨트롤러로 구성됩니다. 프로버 스테이지는 서브 미크론 정밀도로 설계되어 매우 정확한 측정을 보장합니다. 소음 바닥이 매우 낮아 신호 (signal) 의 정확한 측정이 가능합니다. 프로버 (Prober) 는 다양한 샘플 크기에 걸쳐 광범위한 주파수를 스캔 할 수도 있습니다. 통합 레이저 간섭계와 고속 스캔 기능이 장착되어 있습니다. 이것 은 빠른 "스캐닝 '속도 로도" 프로브' 의 움직임 이 정확 하고 정확 한 것 이 되게 하는 데 도움 이 된다. TSK UF200SA에는 프로브 구성 요소를 위한 자동 접촉 추적 기능도 포함되어 있습니다. 이 기능을 사용하면 컴포넌트의 핀과 Prober's Contact 간에 자동 매핑할 수 있습니다. 또한 운영자가 최적의 Probe 배치를 결정하여 신뢰할 수있는 접촉을 보장하도록 도와줍니다. ACCRETECH UF 200 SA 는 또한 자동 기준점 조정을 통해 측정의 정확성과 안정성을 향상시킵니다. UF 200SA는 고급 반도체 테스트를위한 신뢰할 수 있고 다양한 도구입니다. 광범위한 어플리케이션에서 정확성과 안정성을 제공하므로, 최신 집적 회로 (integrated circuit) 의 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 매우 작은 구성 요소를 검사, 측정 및 조사하는 데 적합합니다. 또한 ACCRETECH/TSK UF200SA는 자동 접촉 추적 및 기준점 조정을 통해 반도체 테스트 프로세스를 더욱 안정적이고 효율적입니다.