판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9235935

ACCRETECH/TSK UF 200SA는 웨이퍼 레벨 테스트 및 최종 테스트 응용 프로그램을 위해 설계된 반도체 프로버입니다. 전류, 전압, 용량, 켜짐 전류 등 다양한 테스트 매개변수를 실행할 수 있습니다. 완벽한 수동 제어, 자동 검색 (Automated Scanning), 이벤트 인식 (Event Recognition) 등 다양한 자동화 옵션을 제공합니다. TSK UF200SA prober의 테스트 용량은 최대 200mm (UF 150SA와 비교) 이며, 높은 정밀 웨이퍼 레벨 테스트를 허용하는 프로그래밍 가능한 z축입니다. 또한, 프로버 (Prober) 는 저전압 광학 인코더로 설계되어 증분 동작의 비용과 복잡성을 줄입니다. 또한 직관적 인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 갖추고 있어 wafer test 및 test parameter를 빠르고 쉽게 설정할 수 있습니다. 이 검사는 다른 2 차원 및 3 차원 구조와 함께 역면 트랜지스터, 저항 및 커패시터에 대한 테스트를 수행 할 수 있습니다. 고급 컨택트 비전 (Contact Vision) 시스템은 정확한 정렬뿐만 아니라 신뢰할 수 있는 컨택트 힘도 제공합니다. "콘택트 패드 '를 상쇄 하는 특허 설계 와 더불어 0.2" 미크론' 의 정확성 을 증명 하는 것 은 매번 믿을 만한 접촉 을 보장 한다. 또한 ACCRETECH UF 200 SA 프로버는 "Smart Attitude Console" 을 포함한 다양한 스마트 테스트 기능을 자랑합니다. 이 기능을 사용하면 Prober 매개변수를 원격으로 조정하고 Prober 오류를 신속하게 감지할 수 있습니다. 또한, Prober는 단일 Prober 설정에서 다른 테스트 구성을 실행할 수 있으며, 따라서 사용자는 최소한의 설치 작업으로 여러 테스트 유형에 대한 처리량을 증가시킬 수 있습니다. ACCRETECH UF200SA Prober는 R&D 응용 프로그램뿐만 아니라 반도체 제조 사용자에게 유용한 다양한 기능을 제공합니다. 이 Prober를 사용하면 Contact Pad 패턴을 조정하여 Contact Force 를 최소화하고, Contact Volume 을 최소화하고, 비대칭 Contact 를 실행할 수 있습니다. 또한 다른 주변 장치와의 통신 호환성을 제공하는 IC (Inter-IC) 프로토콜을 지원합니다. 전체적으로 TSK UF 200SA는 사용자에게 최고의 유연성과 효율성을 제공하는 고급 전문가입니다. 웨이퍼 레벨 테스트 (Wafer Level Testing) 및 최종 테스트 어플리케이션에 이상적이며, 전류, 전압, 정전기, 켜짐 전류 등 다양한 테스트를 실행할 수 있습니다. 또한 스마트 테스트 기능 (Smart Test Function) 과 저전압 광학 인코더 (Optical Encoder) 를 제공하며 여러 주변 장치와 호환됩니다.