판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9235929

ACCRETECH/TSK UF 200SA는 웨이퍼 테스트 및 분석을 수행하는 데 사용되는 전문가입니다. 하이엔드 리서치, 개발, 생산 시설의 요구를 충족시키기 위해 만들어진 차세대 디자인 (Next-Generation Design) 입니다. TSK UF200SA 는 다목적 도량형 툴로서, 확장 테스트 범위에 걸쳐 정확한 측정 결과를 제공할 수 있습니다. 이 제품은 Cantilever Vacuum Probes (CVP), 파라 메트릭 테스트 및 잔류 가스 분석 (RGA) 과 같은 다양한 프로세스의 나노 미터 레벨 측정에 사용될 수 있습니다. 청소실 환경에서 작동하도록 설계되었으며 -40C (-40C) 에서 + 85C (+ 85C) 까지 다양한 온도 범위 내에서 확장 작동하도록 설계되었습니다. ACCRETECH UF 200 SA는 완전하게 자동화된 웨이퍼 처리 메커니즘으로, 웨이퍼 프로버 스테이지에서 웨이퍼의 정확한 등록 및 위치를 제공합니다. 자동화된 웨이퍼 핸들러 장비에는 입자 손상 가능성을 줄일 수있는 독특한 LPU (Load Port Unit) 가 제공됩니다. 또한 TSK UF 200SA의 자동 시스템은 성능 측정에서 높은 반복성을 제공합니다. 이 도구에는 다양한 나노 기술 자동화를 제공하는 SPM (Scanning Probe Microscope) 솔루션도 포함되어 있습니다. 다목적 나노 기술 자동화 장치 인 ProTector ™ 솔루션은 현장 테스트 및 결함 분석 작업에 사용할 수 있습니다. ProTector ™ 시스템에는 원격 SPM 작업, 자율 검사, 테스트 자동화 등의 내장 모듈이 함께 제공됩니다. 이러한 모든 기능을 통해 사용자는 nanotechnology 작업의 처리량과 효율성을 극대화할 수 있습니다. ACCRETECH/TSK UF200SA 는 또한 고해상도 비전 (vision) 툴을 통해 사용자가 매우 정확하고 실제 웨이퍼의 형태와 크기를 파악할 수 있도록 지원합니다. 고해상도 비전 (High-resolution vision) 에셋은 사용자가 웨이퍼 (Wafer) 표면에 무접촉 액세스를 제공하여 물리적 접촉을 하지 않고 전체 범위의 웨이퍼 치수를 펄스 측정할 수 있도록 합니다. ACCRETECH UF 200SA는 CVP 패턴 및 특성 및 파라 메트릭 테스트를위한 다양한 분광계를 포함한 전체 분석 도구 제품군을 제공합니다. UF 200SA (High-Precision Prober) 는 청소실 및 실험실 환경에서 다양한 테스트 및 분석에 사용할 수있는 고정밀 전문가입니다. 자동 웨이퍼 처리 메커니즘은 웨이퍼의 정확한 등록 및 위치를 제공하며 SPM (Scanning Probe Microscope) 솔루션은 다양한 나노 기술 자동화 기능을 제공합니다. 고해상도 비전 모델과 함께 ProTector (tm) 솔루션을 사용하면 웨이퍼와 접촉하지 않고 정확한 측정이 가능합니다. 이 기기에는 CVP 패턴, 특성화 및 파라 메트릭 테스트를위한 다양한 분광계 (Spectrometer) 등 다양한 테스트 용 다양한 분석 도구가 제공됩니다.