판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9194869

ACCRETECH/TSK UF 200SA는 미세한 수준에서 반도체 부품의 전기 및 물리적 성능을 신속하게 조사하도록 설계된 웨이퍼 프로버입니다. 최대 200 개의 샘플을 독립적으로, 또는 시리즈로 테스트 할 수 있으며, 장치의 상호 연결과 패드를 모두 분석 할 수 있습니다. 고급 프로빙 시스템은 최대 50kHz 속도에 도달 할 수 있으며 최대 해상도 (5um) 를 제공합니다. TSK UF200SA 프로버의 프레임은 내구성과 온도 안정 알루미늄 합금으로 구성됩니다. 이를 통해 장치가 가변 환경 조건에서 기능할 수 있으며, 프로브 (Probe) 와 샘플 (Sample) 간의 접촉이 매우 정확해질 수 있습니다. 기본 본체는 장치의 다른 지점에 액세스하기 위해 회전 할 수있는 4 개의 패널로 구성되어 있습니다. 프로버는 또한 90도 기울기 및 360 ° 회전 기술을 사용하여 도달 하기 어려운 위치에 쉽게 액세스 할 수 있습니다. 검사는 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 를 통해 작동합니다. 이 프로그램은 샘플의 연결 지점 (connection point) 을 Prober에 표시합니다. 사용자가 적절한 점을 선택하고 디바이스의 도식을 작성할 수 있습니다. 또한, GUI에는 측정값의 정확성과 신뢰성을 보장하기 위해 자체 테스트 기능이 내장되어 있습니다. ACCRETECH UF 200 SA prober는 TSK Thunder 시리즈 현미경과 완전히 통합되어 있으며, 가장 복잡하고, 고도의 통합 및 고급 반도체 구성 요소조차도 조사 할 수 있습니다. 빠른 테스트 시간 내에 정확한 결과를 얻을 수 있으며, 잠재적인 장애 측정 자료 (failure metric) 를 비롯한 다양한 Report 가 생성됩니다. 수집된 데이터는 손쉽게 저장되며, 이를 통해 신뢰할 수 있는 처리 및 분석 작업을 수행할 수 있습니다. 결론적으로, UF200SA 프로버는 반도체 부품의 전기 및 물리적 특성을 테스트하기위한 안정적이고 효율적인 도구입니다. 내구성이 뛰어나고 정확하며 사용이 쉽습니다. 사용자 친화적인 GUI 및 포괄적인 데이터 복구 시스템은 모든 애플리케이션에 이상적인 솔루션이 됩니다.